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J-GLOBAL ID：201802240314744638   整理番号：18A1998647

廃棄電気及び電子装置(WEEE)の化学分析におけるレーザ誘起破壊分光法(LIBS)の応用【JST・京大機械翻訳】

Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) applications in the chemical analysis of waste electrical and electronic equipment (WEEE)

著者 (8件)： Costa Vinicius Camara (Group of Applied Instrumental Analysis, Department of Chemistry, Federal University of Sao Carlos, Sao Carlos, Sao Paulo State, 13565-905, Brazil) ,  Castro Jeyne Pricylla (Group of Applied Instrumental Analysis, Department of Chemistry, Federal University of Sao Carlos, Sao Carlos, Sao Paulo State, 13565-905, Brazil) ,  Andrade Daniel Fernandes (Group of Applied Instrumental Analysis, Department of Chemistry, Federal University of Sao Carlos, Sao Carlos, Sao Paulo State, 13565-905, Brazil) ,  Victor Babos Diego (Group of Applied Instrumental Analysis, Department of Chemistry, Federal University of Sao Carlos, Sao Carlos, Sao Paulo State, 13565-905, Brazil) ,  Garcia Jose Augusto (Group of Applied Instrumental Analysis, Department of Chemistry, Federal University of Sao Carlos, Sao Carlos, Sao Paulo State, 13565-905, Brazil) ,  Speranca Marco Aurelio (Group of Applied Instrumental Analysis, Department of Chemistry, Federal University of Sao Carlos, Sao Carlos, Sao Paulo State, 13565-905, Brazil) ,  Catelani Tiago Augusto (Group of Applied Instrumental Analysis, Department of Chemistry, Federal University of Sao Carlos, Sao Carlos, Sao Paulo State, 13565-905, Brazil) ,  Pereira-Filho Edenir Rodrigues (Group of Applied Instrumental Analysis, Department of Chemistry, Federal University of Sao Carlos, Sao Carlos, Sao Paulo State, 13565-905, Brazil)
資料名： TrAC  (TrAC)
巻： 108  ページ： 65-73  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0852B  ISSN： 0165-9936  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 廃棄物電気および電子機器(WEEE)は世界で最も急速に成長している廃棄物流であり,発展途上国では大部分の残留物がオープンに処分されている。高分子とプリント基板(PCB)はWEEEの主要部分を構成する。この重要な問題に動機付けられて,本レビューは,WEEEからの高分子とPCBの化学検査へのレーザ誘起絶縁破壊分光法(LIBS)技術の寄与を記述する。この技術のいくつかの側面,例えば計量化学ツールの応用,データマイニング,データ処理および操作などを報告した。WEEEにおける重合体の同定のための発光線ライブラリーも示した。さらに,WEEE分析法を開発し,適応し,改良した多くのLIBS研究者の研究を強調した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 廃棄物 ,  重合体 ,  高速度 ,  リサイクル ,  発光 ,  発展途上国 ,  *化学分析 ,  高分子 ,  プリント基板 ,  データマイニング ,  *電子装置 ,  データ処理 ,  ケモメトリックス
準シソーラス用語： *WEEE指令 ,  *廃棄 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： Weeeのリサイクルとソーティング ,  直接固体試料分析 ,  廃棄電気・電子機器 ,  ケモメトリックツール ,  ポリマ同定 ,  プリント基板

分類 (5件)： 抽出  (CC01040H) ,  分析機器  (CC02020S) ,  土壌汚染  (FB04100T) ,  電気泳動分析  (CC04017K) ,  有機化合物の各種分析  (CC08034J)

タイトルに関連する用語 (7件)： 廃棄 ,  電子装置 ,  WEEE ,  化学分析 ,  レーザ誘起破壊分光法 ,  LIBS ,  応用