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J-GLOBAL ID：201802240486284436   整理番号：18A0224377

In-situ放射光X線全散乱計測による硫化物固体電解質の熱処理挙動解析

著者 (4件)： 尾原幸治 (高輝度光科学研究セ) ,  山口展史 (出光興産) ,  宇都野太 (出光興産) ,  中田謙吾 (高輝度光科学研究セ)
資料名： 固体イオニクス討論会講演要旨集  (Extended Abstracts. Symposium on Solid State Ionics in Japan)
巻： 43rd  ページ： 164-165  発行年： 2017年12月05日 
JST資料番号： L1398A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 電池 ,  *リチウム二次電池 ,  *固体電解質 ,  *カルコゲン化物ガラス ,  リチウム化合物 ,  硫化物 ,  硫化リン ,  *熱処理 ,  *結晶化 ,  *X線回折 ,  シンクロトロン放射 ,  変化 ,  結晶構造 ,  イオン伝導 ,  分布関数
準シソーラス用語： 構造変化 ,  全固体電池 ,  対分布関数 ,  *放射光X線回折 ,  硫化リチウム ,  硫化物ガラス

分類 (3件)： 二次電池  (YB04030K) ,  ガラスの製造  (YC02020O) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

タイトルに関連する用語 (7件)： 放射光 ,  X線 ,  散乱計測 ,  硫化物 ,  固体電解質 ,  熱処理 ,  挙動解析