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J-GLOBAL ID：201802240570435783   整理番号：18A0283760

STEMトモグラフィーのための圧縮センシング【Powered by NICT】

Compressed sensing for STEM tomography

著者 (15件)： Donati Laurene (Biomedical Imaging Group, Ecole polytechnique federale de Lausanne, CH-1015 Lausanne, Switzerland) ,  Nilchian Masih (Biomedical Imaging Group, Ecole polytechnique federale de Lausanne, CH-1015 Lausanne, Switzerland) ,  Trepout Sylvain (INSERM, U1196, Orsay F-91405, France) ,  Trepout Sylvain (Institut Curie, Centre de Recherche, Orsay F-91405, France) ,  Trepout Sylvain (CNRS, UMR9187, Orsay F-91405, France) ,  Trepout Sylvain (Universite Paris-Sud, Orsay F-91405, France) ,  Messaoudi Cedric (INSERM, U1196, Orsay F-91405, France) ,  Messaoudi Cedric (Institut Curie, Centre de Recherche, Orsay F-91405, France) ,  Messaoudi Cedric (CNRS, UMR9187, Orsay F-91405, France) ,  Messaoudi Cedric (Universite Paris-Sud, Orsay F-91405, France) ,  Marco Sergio (INSERM, U1196, Orsay F-91405, France) ,  Marco Sergio (Institut Curie, Centre de Recherche, Orsay F-91405, France) ,  Marco Sergio (CNRS, UMR9187, Orsay F-91405, France) ,  Marco Sergio (Universite Paris-Sud, Orsay F-91405, France) ,  Unser Michael (Biomedical Imaging Group, Ecole polytechnique federale de Lausanne, CH-1015 Lausanne, Switzerland)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 179  ページ： 47-56  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型透過電子顕微鏡(STEM)における中心的課題は,3D生物学的ナノ構造の正確なイメージングのための必要な電子線量を低減することである。最終体積の顕著な分解を導入することなく数を減らしSTEM取得からのトモグラフィー再構成を可能にする方法は,特に重要である。ランダムビームSTEM(RB STEM)では,投影測定は,傾斜の画素のサブセットを走査することにより得られた。本研究では,圧縮センシング原理を利用している完全に調整されたRB STEM獲得再構成フレームワークを提案した。最初の画像はウェーブレットの項によって表現される場合RB STEM獲得は「非干渉」条件を満たすことを示した。RB STEM測定から体積を回収するための正則化トモグラフィー再構成フレームワークを提案した。提案したフレームワークは,強くダウンサンプルRB STEMデータから高品質体積を再構築し,そうすることで既存の手法に優ることを合成と実投影測定にシミュレーションにより実証した。STEMに圧縮センシング原理の応用はRB STEMの実用的な実装のための道を開くとSTEMトモグラフィーにおける高品質再構成のための新しい展望を開くものである。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 正則化 ,  電子ビーム ,  波束 ,  再構成 ,  画素 ,  干渉 ,  三次元 ,  部分集合 ,  ナノ構造 ,  *トモグラフィー
準シソーラス用語： 高品質 ,  ダウンサンプリング ,  トモグラフィー再構成 ,  *圧縮センシング , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： STEM ,  電子トモグラフィー ,  画像再構成 ,  ランダムビーム走査 ,  RB STEM ,  圧縮センシング

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (3件)： STEM ,  トモグラフィー ,  圧縮センシング