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J-GLOBAL ID:201802240805053893   整理番号:18A0819795

ワイヤ放電加工におけるワイヤ遅延効果の実験的測定とその信号分類との関係【JST・京大機械翻訳】

Experimental Measurement of Wire-lag Effect and Its Relation with Signal Classification on Wire EDM
著者 (8件):
資料名:
巻: 68  ページ: 132-137  発行年: 2018年 
JST資料番号: W3527A  ISSN: 2212-8271  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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ワイヤ変形と振動はWEDM研究の古典的な話題である。多くの高付加価値成分(航空宇宙,医学,自動車)は,ワイヤEDMを用いて達成できる非常にタイトな公差から利益を得る。しかし,低半径サークルカットの場合と同様に,必要な精度が満たされないいくつかの特別な条件がある。これらの重要な例は,良く知られているfir-tree形状において見出すことができた。本論文では,部品形状に及ぼすワイヤ変形の影響の直接測定を提案した。文献に示された古典的方法は光学的であるか,ワイヤと工作物の間の電気的接触を用いてワイヤ遅れを測定することに基づいている。ワイヤ変形の影響は,機械を突然停止させることによって直接測定できるという考え方を,本論文で開発した。この手法を用いて,小半径の円形経路を切断してもワイヤ変形の影響を測定できる。異なるWEDM切削条件の下で,実験的試験の完全なセットを提示した。低い誘電圧力,部分半径および部分厚さの影響を含んでいる。放電パターンの解析も行い,WEDMの部品における精度の欠如は放電の質と相関することができる。結果は,半径0.8mmの円形補間を切断するとき,ワイヤ変形が,類似の厚さの一部で直線カットと比較して,45%増加することを示した。この事実は,小さな円形経路を切断するときに,トラクトレックス効果によって引き起こされる誤差に直接的な意味を持つ。同様に,ワイヤ遅れと放電タイプ割合(ベースイオン化時間)の間の関係は,半径がイオン化時間を増加させることなく放電の割合を増加させると,10μs以上のイオン化時間を有するものを減少させることを示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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