Watanabe A. について
National Institute of Science and Technology, Tsukuba, Ibaraki, 305-8565, Japan について
Furukawa H. について
National Institute of Science and Technology, Tsukuba, Ibaraki, 305-8565, Japan について
Optics Communications について
SN比 について
ゆがみ について
干渉計 について
画素 について
位相補償 について
分解能 について
干渉縞 について
高分解能 について
センサ について
分光計 について
二次元 について
スループット について
Fourier変換 について
マルチチャネル について
ワーピング について
多チャネルFourier変換 について
ワーピング補償 について
Savartプレート について
面積センサ について
干渉測定と干渉計 について
干渉計 について
ワーピング について
補償 について
高分解能 について
スループット について
マルチチャネル について
Fourier変換分光計 について