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J-GLOBAL ID：201802241601341484   整理番号：18A0625388

X線計算機トモグラフィーと人工二成分粒子に基づく鉱物単体分離および立体解析学的バイアスの実験的解析

Experimental analysis of mineral liberation and stereological bias based on X-ray computed tomography and artificial binary particles

著者 (3件)： Ueda Takao (Environmental Management Research Institute, Department of Energy and Environment, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 16-1 Onogawa, Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan) ,  Oki Tatsuya (Environmental Management Research Institute, Department of Energy and Environment, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 16-1 Onogawa, Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan) ,  Koyanaka Shigeki (Environmental Management Research Institute, Department of Energy and Environment, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 16-1 Onogawa, Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan)
資料名： Advanced Powder Technology  (Advanced Powder Technology)
巻： 29  号： 3  ページ： 462-470  発行年： 2018年03月 
JST資料番号： W0255A  ISSN： 0921-8831  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 鉱物単体分離状態の正確な評価は,鉱物処理にとって重要である。単体分離状態は粒子断面の二次元(2D)観察によって測定されている。しかし,この方法は必然的に立体解析学的バイアスに悩まされている。立体解析学的バイアスとその補正法に関する研究は,現在進行中の研究分野である。立体解析学的バイアス実験は,粒子の内部構造の条件を系統的に設計でき,そして三次元(3D)および2D単体分離状態が得られることを必要とする。上記の要求に応えるために,人工二成分粒子生成とX線CTを組み合わせた実験方法を提案した。提案した方法を用いて,種々の内部構造をもつ16試料について単体分離および立体解析学的バイアス分析を行った。さらに,粒子積のテクスチャ解析に基づく最近提案された立体解析学的補正法を試み,その基本的補正効果を検証した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *X線CT ,  *構造解析 ,  三次元 ,  *バイアス ,  補正 ,  画像分析 ,  内部構造 ,  単体分離 ,  *鉱物分析
準シソーラス用語： X線計算機トモグラフィー ,  立体解析 ,  テクスチャ解析

著者キーワード (4件)： 鉱物分離 ,  立体的バイアス ,  X線CT ,  人工材料

分類 (1件)： 鉱物・岩石・鉱石の物理分析  (CC03090Y)

タイトルに関連する用語 (8件)： X線計算機トモグラフィー ,  人工 ,  二成分 ,  鉱物 ,  単体分離 ,  立体解析学 ,  バイアス ,  実験的解析