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J-GLOBAL ID：201802241921056517   整理番号：18A0377517

ランダムに変化する試験長を持つ分数次数反復学習制御【Powered by NICT】

Fractional order iterative learning control with randomly varying trial lengths

著者 (3件)： Liu Shengda (Department of Mathematics, Guizhou University, Guiyang, Guizhou 550025, PR China) ,  Wang JinRong (Department of Mathematics, Guizhou University, Guiyang, Guizhou 550025, PR China) ,  Wang JinRong (Key and Special Laboratory of System Optimization and Scientific Computing of Guizhou Province, Guiyang, Guizhou 550025, PR China)
資料名： Journal of the Franklin Institute. Engineering and Applied Mathematics  (Journal of the Franklin Institute. Engineering and Applied Mathematics)
巻： 354  号： 2  ページ： 967-992  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0292A  ISSN： 0016-0032  CODEN： JFINA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,分数次数システムのための有限時間間隔で追跡問題を変えることに対処するための均一フレームワークを確立した。変化試験長ランダムに非線形分数微分系に関連した基準軌道を追跡するために,積分項を含む非線形入力出力方程式の新しい型反復学習制御を設計した。結果として,局所平均演算子を用いたいくつかのクラス学習則の収束解析結果を示した。最後に,いくつかの例を提示し,ここでの結果を例示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *積分
準シソーラス用語： 収束解析 ,  学習則 ,  分数微分 ,  追跡問題 ,  時間間隔 ,  *反復学習制御 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： システム設計・解析  (IA02030D)

タイトルに関連する用語 (3件)： 試験 ,  分数次 ,  反復学習制御