文献

J-GLOBAL ID：201802242252293214   整理番号：18A0949406

InP-HEMT ICを用いた高速THz波帯誘電率測定システム

High-speed THz Permittivity Measurement System using InP-HEMT IC

著者 (4件)： 徐照男 (NTT NTT先端集積デバイス研) ,  濱田裕史 (NTT NTT先端集積デバイス研) ,  松崎秀昭 (NTT NTT先端集積デバイス研) ,  野坂秀之 (NTT NTT先端集積デバイス研)
資料名： 電気学会研究会資料
号： EDD-18-032-042 電子デバイス研究会  ページ： 57-61  発行年： 2018年03月26日 
JST資料番号： Z0924B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究ではInP-HEMT ICを用いた高速なTHz誘電率測定システムを提案する。送信機ではInP-HEMTプロセスで作製したミキサを用いて2周波信号を生成し送信する。受信機ではダイオードを用いて2周波の位相差情報を持ったビート波を生成しその位相から誘電率を計算する。従来の単周波掃引方式を用いた誘電率測定システムと比べて周波数切り替え時のセトリング時間が必要なくなり,測定時間を従来の1/200以下に削減可能であることを実証した。(著者抄録)

シソーラス用語： *誘電率 ,  *計測システム ,  *テラヘルツ波 ,  リン化インジウム ,  HEMT ,  集積回路 ,  位相測定 ,  送信機 ,  受信機 ,  周波数混合 ,  利得 ,  周波数依存性
準シソーラス用語： ミクサ【周波数】 ,  測定システム

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (5件)： InP ,  HEMT ,  IC ,  THz波 ,  誘電率測定