抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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Haefly Hipotronicsにおいて,著者らは,驚くほど発見された状況を持っており,それにおいて,試験は,典型的にMurphyの法則において実行された。様々な原因が含まれている。例えば,標準の誤解釈(IEC/IEEE),または機器設定の誤解釈,または不適切な計装または試験システムである。試験を行うことにより,適用可能な(IEC/IEEE)標準に適合しない測定値を導くことができるか,または誤った測定結果を生み出すことができる。これは,試験対象,試験システム,またはオペレータへの損傷を引き起こす可能性がある。この報告は,部分放電測定,損失測定および雷インパルス試験のような試験をカバーするいくつかの状況の要約である。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
