文献

J-GLOBAL ID：201802242575216339   整理番号：18A1876268

プロセス活動を監視するためのツールとしての近赤外線画像解析【JST・京大機械翻訳】

Near-Infrared Image Analysis as Tool for Monitoring Process Activities

著者 (8件)： Kuebel-Heising Felix (Hochschule Mannheim, Institute for Process Control and Innovative Energy Conversion, Paul-Wittsack-Strasse 10, 68163, Mannheim, Germany) ,  Kunkel Sven (Hochschule Mannheim, Institute for Process Control and Innovative Energy Conversion, Paul-Wittsack-Strasse 10, 68163, Mannheim, Germany) ,  Medina Isabel (Hochschule Mannheim, Institute for Process Control and Innovative Energy Conversion, Paul-Wittsack-Strasse 10, 68163, Mannheim, Germany) ,  Hien Andreas (Hochschule Mannheim, Institute for Process Control and Innovative Energy Conversion, Paul-Wittsack-Strasse 10, 68163, Mannheim, Germany) ,  Schmitt Lukas (Hochschule Mannheim, Institute for Process Control and Innovative Energy Conversion, Paul-Wittsack-Strasse 10, 68163, Mannheim, Germany) ,  Scholl Stephan (Technische Universitaet Braunschweig, Institute for Chemical and Thermal Process Engineering, Langer Kamp 7, 38106, Braunschweig, Germany) ,  Repke Jens-Uwe (Technische Universitaet Berlin, Process Dynamics and Operations Group, Sekr. KWT-9, Strasse des 17. Juni 135, 10623, Berlin, Germany) ,  Raedle Matthias (Hochschule Mannheim, Institute for Process Control and Innovative Energy Conversion, Paul-Wittsack-Strasse 10, 68163, Mannheim, Germany)
資料名： Chembioeng Reviews  (Chembioeng Reviews)
巻： 5  号： 5  ページ： 334-342  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2525A  ISSN： 2196-9744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プロセス工学において,流体と固体の局所分布とそれらの時間的および空間的濃度が支配的なプロセス関連パラメータを表すことがしばしばある。本論文は,空間分解および分子特異的測定法の両方の使用を必要とする,乾燥,移動,および結晶構造形成のようなプロセスの監視に専用である。非接触測定手順は,インジウムヒ化ガリウム(InGaAs)センサによる近赤外(NIR)画像分析である。このインライン測定法の応用可能性と可能性を示し説明した。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ヒ化ガリウムインジウム ,  結晶構造 ,  画像分析 ,  非接触測定 ,  *近赤外線
準シソーラス用語： プロセス工学 ,  *近赤外画像 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 画像解析 ,  InGaAsチップ ,  近赤外線 ,  プロセスモニタリング ,  可視化

分類 (1件)： 医用画像処理  (JE04020T)

タイトルに関連する用語 (5件)： プロセス ,  活動 ,  ツール ,  近赤外線画像 ,  解析