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J-GLOBAL ID：201802243632931321   整理番号：18A0074407

SRAMベースFPGAのための種々の誤差低減技術の実現【Powered by NICT】

Realization of various error mitigation techniques for SRAM based FPGA

著者 (3件)： Chorasia Jyoti (Dept. of Computer Engineering, Charusat University, Anand, India) ,  Jasani Karan (Dept. of Computer Engineering, Charusat University, Anand, India) ,  Shah Arpita (Dept. of Electronics & Comm., Engineering, Charusat University, Anand, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： I2CT  ページ： 55-59  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： SRAMベースFPGAは厳しい放射線環境に有用である。これら型再構成可能デバイスの故障出力,機能不全またはいくつかの時間系システムを故障に導くであろうを引き起こす放射線効果に敏感である。シングルイベントアップセット(SEU)は,SRAMに基づくFPGAのための最も一般的な結果である,記憶細胞として構成されているメモリを用いたユーザ論理を修飾するかもしれない。SEUを緩和するためのSRAMベースFPGAで実現されている異なる緩和技術。緩和への一般的なアプローチは,ハードウェア,ソフトウェア,情報冗長性に基づく冗長性技術である。本論文では,TMR,DWC CED,RPR,Quadded論理のような広く使用されている軽減技術を簡単に説明し,Xilinx Spartan6FPGA上に実装した。技術による資源利用の徹底的な比較を行い,単一設計問題に関するすべての技術を適用した。まとめを本稿の最後に提供する。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 機能障害 ,  *SRAM ,  放射線 ,  ソフトウェア ,  SEU【シングルイベント】 ,  記憶装置 ,  ハードウェア ,  緩和現象 ,  放射線効果 ,  *FPGA ,  故障 ,  冗長性
準シソーラス用語： 資源利用 ,  *誤差低減 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： SRAM ,  FPGA ,  誤差低減