文献

J-GLOBAL ID：201802244075874948   整理番号：18A1905167

グロー放電のための2つのパーティクルインセル符号の検証とベンチマーキング【JST・京大機械翻訳】

Validation and Benchmarking of Two Particle-in-Cell Codes for a Glow Discharge

著者 (5件)： Carlsson J. (Princeton Plasma Physics Laboratory, USA) ,  Khrabrov A. (Princeton Plasma Physics Laboratory, USA) ,  Kaganovich I. (Princeton Plasma Physics Laboratory, USA) ,  Sommerer T. (General Electric Global Research, USA) ,  Keating K. (University of California at Berkeley, United States)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICOPS  ページ： 1  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二つの粒子-インセルコードEDIPICとLSPをベンチマークし,ヘリウム中の平行平板グロー放電に対して検証した。その中で,軸方向電場を注意深く測定し,それらの衝突モデルの忠実度を調べ,改善した。二次電子放出収率の値だけでなく,電子衝撃イオン化の散乱異方性もこの場合によく知られていない。放出収率の実験的不確実性はカソード電流の2つの変化の因子に対応する。各コードによって計算されたカソード電流を実験に適合させるために放出収率を調整すると,計算した電場は互いに良く一致し,実験値の約10%以内であった。実験で見られた印加電圧による陰極降下の幅の非単調変化を両コードにより再現した。負グロー中の電子温度は両コードに対して実験誤差バー内にあるが,遅いトラップ電子の密度は過小評価される。ヘリウムガスへの電子ビーム注入のいくつかの合成事例に対して行ったより詳細なコード比較は,コードがイオン化速度,ならびに等方性散乱パターンとの弾性および励起衝突に対して非常に良く一致することを示した。二つのコードの間の残りの有意差は,それらの電子二値衝突モデルの差と弾性および励起衝突による異方性散乱によるものである。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 衝突イオン化 ,  *グロー放電 ,  イオン化 ,  弾性 ,  電場 ,  ヘリウム ,  電流 ,  電子ビーム ,  二次電子放出 ,  散乱 ,  カソード ,  等方性 ,  ベンチマーク ,  励起
準シソーラス用語： 印加電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  音声処理  (JE05000E) ,  符号理論  (ND02030R) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y)

タイトルに関連する用語 (4件)： グロー放電 ,  符号 ,  検証 ,  ベンチマーキング