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J-GLOBAL ID：201802244081015837   整理番号：18A1890183

新規事業分野(技術部)の「売りの技術」

著者 (1件)： 佐々木孝明 (IHI検査計測)
資料名： IIC Review  (IIC Review)
号： 60  ページ： 25-29  発行年： 2018年10月 
JST資料番号： L4997A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・技術部は非破壊検査技術の開発を実施。
・本稿では,超音波探傷法(UT)と電磁気探傷法の技術開発を紹介。
・UTの技術開発:1)ガイドウェーブ探傷法,2)飛行時間差超音波探傷法(TOFD法),3)フェーズドアレイ探傷法,4)コンピュータ技術。
・電磁気探傷試験:交流電磁場測定法に基づき,塗膜上から探傷。
・磁歪ガイドウェーブ法の原理を図示。

シソーラス用語： *非破壊検査 ,  *設備保全 ,  *超音波探傷 ,  *電磁気検査 ,  *飛行時間法 ,  *フェイズドアレイ ,  *磁歪

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (3件)：

• 船戸一寛他:新UT(Phased Array法、TOFD法)技術の実機適用状況、IIC REVIEW、No.41、2009/04、pp.17-23
• 三原毅:「フェイズドアレイ」特集号刊行にあたって、非破壊検査、2007年10月号、巻頭言
• 大黒光喜他:ACFMによる台車枠検査技術の開発 その2、IIC REVIEW、No.36、2006/10、pp.17-24

タイトルに関連する用語 (1件)： 事業