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J-GLOBAL ID:201802244289519150   整理番号:18A0924470

InAsSb/GaAs(001)上の面内超高密度InAs量子ドットの成長過程と光ルミネセンス特性【JST・京大機械翻訳】

Growth Process and Photoluminescence Properties of In-Plane Ultrahigh-Density InAs Quantum Dots on InAsSb/GaAs(001)
著者 (4件):
資料名:
巻: 255  号:ページ: e1700307  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0599A  ISSN: 0370-1972  CODEN: PSSBBD  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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InAsはInAsSb/GaAs(001)上に分子線エピタクシー(MBE)により成長させた。InAsの初期成長では,InAsSbぬれ層(WL)上に細長い小さな二次元(2D)島が形成された。InAs成長が進行すると,3Dドットが自発的に形成され,その下にある2Dテラスが狭くなる。さらに,2D層の表面原子は歪緩和のために脱着した。3Dドット体積は,供給量から推定したものより大きかった。これらの結果から,2D層から脱着された表面原子は3D島に再結合していることが分かった。ドット密度は1×10~12cm-2に達した。光ルミネセンス(PL)ピークエネルギーと半値全幅は2D-3D成長モード遷移に対する臨界被覆率で連続的に変化した。特に,PLピークエネルギーは3D島の平均体積の-0.27乗にほぼ比例する。これらの3D島のキャリアは,面内超高密度と小サイズにもかかわらず,0D電子系に基づく性質を持つことを明らかにした。さらに,PL強度と量子ドット密度との関係を評価した。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  ,  半導体レーザ 

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