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J-GLOBAL ID：201802244331238917   整理番号：18A0385031

SEMの真空条件下での時間分解電流法と熱刺激電流捕獲と熱劣化橋かけポリエチレン絶縁ケーブルにおけるデトラッピング過程【Powered by NICT】

A time-resolved current method and TSC under vacuum conditions of SEM: Trapping and detrapping processes in thermal aged XLPE insulation cables

著者 (4件)： Boukezzi L. (Materials Science and Informatics Laboratory, MSIL, University of Djelfa, Djelfa, Algeria) ,  Rondot S. (Laboratoire d’Ingenierie & Sciences des Materiaux, UFR Sciences, BP1039, 51687 Reims cedex 2, France) ,  Jbara O. (Laboratoire d’Ingenierie & Sciences des Materiaux, UFR Sciences, BP1039, 51687 Reims cedex 2, France) ,  Boubakeur A. (L.R.E./Laboratory of High Voltage, Polytechnic National School, BP182, EL-Harrach, Algiers, Algeria)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 394  ページ： 126-133  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 架橋ポリエチレン(XLPE)の熱劣化は,高電圧システムにおける安全運転における重要な関心事を引き起こす可能性がある。融解温度範囲でXLPEの捕獲と脱捕獲プロセスに及ぼす熱時効の効果に関するより詳細な画像を得るために,熱刺激電流(TSC)は特異的配列を持つ走査型電子顕微鏡(SEM)で実行した。XLPE試料である成形と材料の融解温度近くに位置する二つの温度で時効した(120°Cと140°C)。SEMの使用は,電子照射下で試料中に誘起された両方の漏れ電流と変位電流を測定することを可能にする。第一はXLPEの伝導過程を表し,第二は材料のバルク中の電荷の捕獲に関する情報を与えた。SEMに関連したTSCは電子照射後に測定された電流を用いた熱刺激下でのXLPE放電のスペクトルを示した。充電プロセスの漏れ電流は熱的時効の下で結晶性変化をもたらす物理的欠陥に関連する可能性があることが分かった。しかしトラップされた電荷は熱酸化分解と材料における無秩序から生じるカルボニル基により影響を受ける可能性がある。熱刺激下で放出電荷がない非時効XLPEのTSCスペクトルから証明した。が熱的に時効した試料のTSCスペクトルにおけるピークの存在は,加熱により放出されたトラップされた電荷の量であることを示した。エイジングしたXLPEのデトラッピング挙動を,二捕獲準位の存在:浅いトラップと深いトラップの仮定により支持された。全体として,高温での熱エージングのもとで物理化学的反応は,トラップ深さの範囲で浅いトラップ密度と変化の増強をもたらした。これらの変化は,XLPEの電気特性の劣化を誘導する。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電荷 ,  結晶度 ,  電気特性 ,  時効 ,  漏れ電流 ,  *熱刺激電流 ,  放電 ,  *熱劣化 ,  スペクトル ,  化学反応 ,  走査電子顕微鏡 ,  *捕獲 ,  電子照射 ,  *熱刺激 ,  融点

著者キーワード (4件)： XLPE ,  熱老化 ,  SEM ,  TSCトラップされた電荷トラップ深さ

分類 (4件)： 線量計測・計測器  (AD08050Q) ,  その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  無機化合物のルミネセンス  (BM08093J)

タイトルに関連する用語 (10件)： SEM ,  真空 ,  分解 ,  熱刺激電流 ,  捕獲 ,  熱劣化 ,  橋かけポリエチレン ,  絶縁 ,  ケーブル ,  過程