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J-GLOBAL ID:201802244432023154   整理番号:18A1958270

試験-努力と試験被覆を考慮した不完全デバッグプロセスのためのソフトウェア信頼性成長モデル【JST・京大機械翻訳】

Software Reliability Growth Model for Imperfect Debugging Process Considering Testing-Effort and Testing Coverage
資料名:
巻: 35  号:ページ: 455-463  発行年: 2018年 
JST資料番号: W0400A  ISSN: 1005-1120  CODEN: TNUAFX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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必然的なデバッギング遅れのために,不完全なデバッギング過程を用いて,ソフトウェア信頼性成長モデルの解析において完全なデバッギング工程を置き換えた。テスティング努力もテストカバレッジも完全に不完全デバッギングのためのソフトウェア信頼性を記述することができないことを考慮して,不完全なデバッギングの下でテスト範囲をテストすることによって,本論文はGMW-LO-IDと名付けた新しいモデルを提案した。故障の数が検出された故障の現在の数に比例するという仮定の下で,このモデルは一般化された修正Weibull(GMW)試験努力関数をロジスティック(LO)試験範囲関数と結合し,GMWの驚く柔軟性とLOの高い適合精度を継承する。さらに,フィッティング精度と予測力を2つの実験によって検証し,著者らのモデルが実際の故障データにより良く適合し,他の10の従来モデルよりもソフトウェアの将来挙動を予測することができることを示した。それは,試験範囲と不完全なデバッギングの1つか2つのポイントを考慮するだけである。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
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