Grulke Eric A. について
Chemical & Materials Engineering, College of Engineering, University of Kentucky, Lexington, KY, 40506-0046, USA について
Rice Stephen B. について
Cabot Corporation, 157 Concord Rd, Billerica, MA, 01821, USA について
Xiong JinCheng について
Cabot Corporation, 157 Concord Rd, Billerica, MA, 01821, USA について
Yamamoto Kazuhiro について
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba Central 5, Higashi 1-1-1, Japan について
Yoon Tae Hyun について
Department of Chemistry, College of Natural Sciences, Hanyang University, Seoul, 133 791, South Korea について
Thomson Kevin について
National Research Council Canada, 1200 Montreal Road, Building M-9, Ottawa, ON, K1A 0R6, Canada について
Saffaripour Meghdad について
National Research Council Canada, 1200 Montreal Road, Building M-9, Ottawa, ON, K1A 0R6, Canada について
Smallwood Greg J. について
National Research Council Canada, 1200 Montreal Road, Building M-9, Ottawa, ON, K1A 0R6, Canada について
Lambert Joshua W. について
Department of Statistics, College of Arts and Sciences, 313 Multidisciplinary Science Building, University of Kentucky, Lexington, KY, 40506-0082, USA について
Stromberg Arnold J. について
Department of Statistics, College of Arts and Sciences, 313 Multidisciplinary Science Building, University of Kentucky, Lexington, KY, 40506-0082, USA について
Macy Ryan について
Chemical & Materials Engineering, College of Engineering, University of Kentucky, Lexington, KY, 40506-0046, USA について
Briot Nicholas J. について
Electron Microscope Center, College of Engineering, 004 ASTeCC Building, University of Kentucky, Lexington, KY, 40506-0286, USA について
Qian Dali について
Electron Microscope Center, College of Engineering, 004 ASTeCC Building, University of Kentucky, Lexington, KY, 40506-0286, USA について
Carbon について
多モード について
フラクタル について
カーボンブラック について
モルフォロジー について
線形性 について
透過型電子顕微鏡 について
キャラクタリゼーション について
再現性 について
米国材料試験協会 について
凝集体 について
粒度 について
耐久性 について
プロトコル について
応用プログラム について
測定の不確かさ について
炭素とその化合物 について
透過型電子顕微鏡 について
カーボンブラック について
凝集体 について
分布 について