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J-GLOBAL ID：201802244670646620   整理番号：18A1050697

粗大粒のための新しいX線応力測定法

著者 (3件)： 鈴木賢治 (新潟大) ,  菖蒲敬久 (原子力発電技術機構) ,  城鮎美 (量子科学機構)
資料名： 日本材料学会学術講演会講演論文集  (Proceedings of the JSMS Annual Meetings)
巻： 67th  ページ： 203-204  発行年： 2018年05月25日 
JST資料番号： Y0052A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線応力測定 ,  *多重露光 ,  回路パターン形成 ,  重合せ ,  エネルギー ,  X線 ,  高エネルギー領域 ,  X線散乱 ,  *結晶粒 ,  *結晶粒粗大化 ,  X線回折 ,  シンクロトロン放射 ,  *二重露光 ,  高エネルギーX線 ,  放射光X線回折 ,  *改変

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (1件)： X線応力測定