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J-GLOBAL ID：201802244688197681   整理番号：18A1046911

生産システムレベル試験(SLT)に関する適応試験法(SLT) 試験コスト,資源および欠陥部品を最適化するための(SLT)【JST・京大機械翻訳】

Adaptive test method on production system-level testing (SLT) to optimize test cost, resources and defect parts per million (DPPM)

著者 (4件)： Letchumanan Subagaran (Intel Technology Sdn Bhd) ,  Tan Terrence Huat Hin (Intel Technology Sdn Bhd) ,  Gan Yee Pheng (Intel Technology Sdn Bhd) ,  Wong Sai Leong (Intel Technology Sdn Bhd)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： VLSI-DAT  ページ： 1-3  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： モノリシックSOCはより多くのIPsを追加することを保つので,結果として得られた試験コストは,100万(DPPM)当たりの外向き欠陥部品内にある全体の被覆率を増大させることが課題となっている。許容できるレベル内でのDPPMを維持するための追加被覆のためのシステムレベル試験(SLT)に対する信頼性は,現在基準になっている。挑戦は,試験コストを低く保つために,最小試験時間予算内でSLTをどのように保つかに関するものである。本論文では,そのDPPMリスクタグに基づいて,部分的に異なるテストコンテンツを知的に適用するSLTプラットフォーム上で,適応テスト法を成功裏に実装する方法について説明した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 被覆率 ,  信頼性 ,  *生産システム ,  被覆 ,  *最適化
準シソーラス用語： *試験方法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 分子遺伝学一般  (EC02010J) ,  鋳造法,鋳込  (WC01030Q) ,  組織的硬化現象  (WB01020C) ,  磁性流体  (BM06090W) ,  バイオアッセイ  (EA03060N)

タイトルに関連する用語 (7件)： 試験 ,  SLT ,  適応 ,  試験法 ,  資源 ,  欠陥 ,  最適化