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J-GLOBAL ID：201802244832537093   整理番号：18A0727036

非対称試験取付具のための2x-Thru埋め込みの精度の検証【JST・京大機械翻訳】

Verifying the accuracy of 2x-Thru de-embedding for unsymmetrical test fixtures

著者 (2件)： Barnes Heidi (Keysight Technologies, Santa Rosa, California) ,  Moreira Jose (Advantest, Boeblingen, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EPEPS  ページ： 1-3  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： その単純さのために,2x-Thr試験設備の埋め込みアルゴリズムは,試験と測定コミュニティによって受け入れられている。2x-Thru脱埋め込みアルゴリズムの一つの共通の概念は,DUTの両側に対称性を持つ試験装置を必要とすることである。非対称試験設備設計を扱うために,DUTに接続する各固定具に対して別々の2x-Thr構造を簡単に実装することができ,その結果,問題を2つの対称2x-Thr構造に分離することができる。本論文では,非対称試験固定具のための2x-Thru脱埋め込みアルゴリズムの精度を検証するために,同軸アダプタを有するPCB試験構造のキットを活用した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アダプタ ,  対称性 ,  コミュニティ ,  固定具 ,  アルゴリズム ,  *非対称性 ,  試験装置
準シソーラス用語： 機器設計 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 雑音測定  (ND04030F) ,  計測機器一般  (AD02000X)

タイトルに関連する用語 (5件)： 非対称 ,  試験 ,  取付具 ,  埋め込み ,  検証