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J-GLOBAL ID：201802245620735797   整理番号：18A0972173

埋込み確率的MRAMによるBayesネットワークの実装【JST・京大機械翻訳】

Implementing Bayesian networks with embedded stochastic MRAM

著者 (3件)： Faria Rafatul (School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, Indiana 47907, USA) ,  Camsari Kerem Y. (School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, Indiana 47907, USA) ,  Datta Supriyo (School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, Indiana 47907, USA)
資料名： AIP Advances (Web)  (AIP Advances (Web))
巻： 8  号： 4  ページ： 045101-045101-8  発行年： 2018年 
JST資料番号： U7121A  ISSN： 2158-3226  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低障壁磁石を有する磁気トンネル接合(MTJ)を用いてランダム数発生器(RNG)を実装し,従来のトランジスタのドレインに接続したこのようなMTJが3端子可変同調RNGまたはP-BITを提供することを最近示した。本論文では,このP-BITが,実際の世界変数における相関が対応する回路ノード上の電気的測定から得られるように,Bayesネットワーク(BN)をエミュレートするp回路を構築するためにどのように使用できるかを示した。p回路設計は二段階で進行する:BNは,無次元バイアス(h)と相互接続(J)係数により定義される確率的スピン論理(PSL)と呼ばれる挙動モデルに最初に変換され,次に電子回路要素に変換される。ベンチマーク例として,3世代のファミリーツリーを模倣し,SPICE適合回路シミュレータから計算した遺伝的関連性がよく知られた結果と一致することを示した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： バイアス ,  *乱数 ,  回路設計 ,  トランジスタ ,  電気測定 ,  エミュレーション ,  電子回路 ,  磁石 ,  相互接続 ,  ベンチマーク
準シソーラス用語： 回路シミュレータ ,  挙動モデル ,  可変同調 ,  磁気トンネル接合 ,  *信念ネットワーク , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： システム・制御理論一般  (IA02010H) ,  信頼性  (KB04040H) ,  人工知能  (JE08000Z)

タイトルに関連する用語 (5件)： 埋込み ,  確率 ,  MRAM ,  Bayesネットワーク ,  実装