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J-GLOBAL ID：201802245801430353   整理番号：18A1913788

STMによるワイル半金属表面でのフェルミアーク観察

Observation of Surface Fermi Arcs in Weyl Semimetal via Scanning Tunneling Microscopy

著者 (1件)： 井上博之
資料名： 表面と真空  (Vacuum and Surface Science)
巻： 61  号： 10  ページ： 669-674(J-STAGE)  発行年： 2018年 
JST資料番号： G0194B  ISSN： 2433-5835  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Weyl半金属の表面状態の運動量がバルクのWeylノードの表面投影のそれと一致するとき,Weyl半金属はトポロジー的に表面状態を保護し,バルクを通じて侵入すると予測されるFermi面輪郭を持つ。ここでは,Weyl半金属TaAsの表面における準粒子干渉を可視化するために,走査型トンネル顕微鏡(STM)による分光マッピングを用いた実験について述べた。著者らの測定により,Fermiアーク表面状態の形状およびスピン組織,並びにバルクへのそれらの運動量に依存した侵入を考慮することによって再現できる,多数の散乱波数ベクトルを明らかにした。著者らの結果は,Weyl半金属の表面-バルク連結性の出現を原子スケールで実証した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,  *半金属 ,  *表面構造 ,  *Fermi面 ,  節点 ,  *ヒ化物 ,  *タンタル化合物 ,  準粒子 ,  運動量 ,  波数ベクトル ,  可視化
準シソーラス用語： *Weyl半金属 ,  *トポロジカル表面状態 ,  *Fermiアーク ,  Weylノード ,  準粒子干渉 ,  運動量依存性 ,  原子スケール

著者キーワード (10件)： Weyl半金属 ,  Fermiアーク ,  走査型トンネル顕微鏡法 ,  表面科学 ,  トポロジカル材料 ,  Weyl半金属 ,  Fermiアーク ,  走査型トンネル顕微鏡法 ,  表面科学 ,  トポロジカル材料

分類 (2件)： 金属結晶の電子構造  (BM02050C) ,  表面の電子構造  (BM02080J)

引用文献 (16件)：

• 1) N.P. Armitage, E.J. Mele and A. Vishwanath : Rev. Mod. Phys. 90, 015001 (2018).
• 2) X. Wan, A.M. Turner, A. Vishwanath and S.Y. Savrasov : Phys. Rev. B 83, 205101 (2011).
• 3) A.A. Burkov and L. Balents : Phys. Rev. Lett. 107, 127205 (2011).
• 4) H. Weng, C. Fang, Z. Fang, B.A. Bernevig and X. Dai : Phys. Rev. X 5, 011029 (2015).
• 5) B.Q. Lv, H.M. Weng, B.B. Fu, X.P. Wang, H. Miao, J. Ma, P. Richard, X.C. Huang, L.X. Zhao, G.F. Chen, Z. Fang, X. Dai, T. Qian and H. Ding : Phys. Rev. X 5, 031013 (2015).

タイトルに関連する用語 (4件)： STM ,  ワイル半金属 ,  フェルミアーク ,  観察