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J-GLOBAL ID：201802245939021286   整理番号：18A0338553

深さと硬膜下側電極の再検討:てんかんの切除手術後の手術転帰への影響【Powered by NICT】

Depth versus subdural temporal electrodes revisited: Impact on surgical outcome after resective surgery for epilepsy

著者 (10件)： Valentin A. (Department of Basic and Clinical Neuroscience, King’s College London, Institute of Psychiatry, Psychology and Neuroscience (IoPPN), UK) ,  Valentin A. (Department of Clinical Neurophysiology, King’s College Hospital NHS Trust, London, UK) ,  Hernando-Quintana N. (Department of Basic and Clinical Neuroscience, King’s College London, Institute of Psychiatry, Psychology and Neuroscience (IoPPN), UK) ,  Moles-Herbera J. (Department of Basic and Clinical Neuroscience, King’s College London, Institute of Psychiatry, Psychology and Neuroscience (IoPPN), UK) ,  Jimenez-Jimenez D. (Department of Basic and Clinical Neuroscience, King’s College London, Institute of Psychiatry, Psychology and Neuroscience (IoPPN), UK) ,  Mourente S. (Department of Basic and Clinical Neuroscience, King’s College London, Institute of Psychiatry, Psychology and Neuroscience (IoPPN), UK) ,  Malik I. (Department of Neurosurgery, King’s College Hospital NHS Trust, London, UK) ,  Selway R.P. (Department of Neurosurgery, King’s College Hospital NHS Trust, London, UK) ,  Alarcon G. (Department of Basic and Clinical Neuroscience, King’s College London, Institute of Psychiatry, Psychology and Neuroscience (IoPPN), UK) ,  Alarcon G. (Department of Clinical Neurophysiology, King’s College Hospital NHS Trust, London, UK)
資料名： Clinical Neurophysiology  (Clinical Neurophysiology)
巻： 128  号： 3  ページ： 418-423  発行年： 2017年 
JST資料番号： A1155A  ISSN： 1388-2457  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 側頭葉切除術後の手術転帰に対する術前評価中の電極法(硬膜下または深部電極)の影響を遡及的に検討した。研究は両耳側硬膜下ストリップを用いた深さ電極と57と評価した17例を対象とした。MRIは深さ記録(29.41%対3.5%,P=0.00069)を受けた患者における大部分両側病理を示した。手術を受けた患者の中で,深部電極記録を受けたものは術後1年でより良好な結果を示した(11/12対22/33;P=0.046)。この違いは最長フォローアップで消失した(10/12対22/33;P=0.138)。さらに,手術を受け,頭蓋内記録による評価後に良好な転帰を有する確率が1年追跡時点で深部電極群でより高く(11/17対22/57;P=0.029)が最長フォローアップの傾向に減少する統計的差異(1017対2257;P=0.069)。他の統計的差は硬膜下および深部電極間に認められなかった。深さ電極は硬膜下電極より低い合併症率を示した。深さと硬膜下電極は側頭葉てんかんの術前評価に有効であった。深部電極による評価は,より長い期間をフォローアップのために消失する1年間の追跡で手術とわずかに良好な手術成績のわずかに増加した可能性と関連している。深部電極による最初の評価は患者の15%で二注入を避けたであろう。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 病理 ,  発作 ,  *切除術 ,  患者 ,  薬物耐性 ,  *てんかん ,  *硬膜
準シソーラス用語： 手術成績 ,  側頭葉てんかん ,  硬膜下電極 ,  頭蓋 ,  フォローアップ ,  術前評価 ,  側頭葉切除 ,  *転帰 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (7件)： 発作 ,  薬剤耐性てんかん ,  てんかん手術 ,  頭蓋内電極 ,  深さ電極 ,  硬膜下電極 ,  側頭葉てんかん

分類 (1件)： 神経系疾患の外科療法  (GN05030J)

タイトルに関連する用語 (5件)： 硬膜 ,  てんかん ,  切除手術 ,  手術 ,  転帰