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J-GLOBAL ID：201802246374497323   整理番号：18A1620157

エネルギー範囲1~200eVにおけるパラ-ベンゾキノンからの全電子散乱断面積【JST・京大機械翻訳】

Total electron scattering cross sections from para-benzoquinone in the energy range 1-200 eV

著者 (14件)： Lozano A. I. (Instituto de Fisica Fundamental, CSIC, Serrano 113-bis, E-28006 Madrid, Spain. [e-mail] [e-mail]) ,  Oller J. C. ,  Jones D. B. ,  da Costa R. F. ,  Varella M. T. do N. ,  Bettega M. H. F. ,  Ferreira da Silva F. ,  Limao-Vieira P. ,  Lima M. A. P. ,  White R. D. ,  Brunger M. J. ,  Blanco F. ,  Munoz A. ,  Garcia G.
資料名： Physical Chemistry Chemical Physics  (Physical Chemistry Chemical Physics)
巻： 20  号： 34  ページ： 22368-22378  発行年： 2018年 
JST資料番号： A0271C  ISSN： 1463-9076  CODEN： PPCPFQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 1~200eVの範囲の衝突エネルギーに対するパラベンゾキノンからの全電子散乱断面積を,磁気閉込め条件下での線形電子ビームの減衰を測定することにより得た。これらの値のランダム不確実性限界は5%以内であることが分かった。検出器のアクセプタンス角と組み合わせた軸方向磁気ビーム条件による系統誤差を,計算した独立原子モデルを,遮蔽補正加成則と干渉項弾性微分断面積を用いて,検出許容角度以上で積分することにより評価した。この分子に関する以前の計算と測定(Jonesら,J.Chem.Phys.,2018,148,124312とJ.Chem.Phys.,2018,148,204305)を編集し,モデル化目的のために考慮したエネルギー範囲内で包括的断面積データベースを得るために新しい弾性と非弾性散乱断面積計算を補完した。本データセットの自己整合性をパラベンゾキノン中の15eV電子の電子輸送をシミュレートすることにより評価し,これらの結果を観測された透過強度分布と比較した。Copyright 2018 Royal Society of Chemistry All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電子ビーム ,  アクセプタンス ,  衝突エネルギー ,  検出器 ,  *断面積 ,  弾性 ,  磁気 ,  総和則 ,  データベース ,  干渉 ,  *エネルギー ,  モデリング ,  計算 ,  微分断面積
準シソーラス用語： *散乱断面積 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 無触媒気相反応  (CB06050Y) ,  分子間相互作用  (BH07020P) ,  反応性散乱  (BH07060H)

タイトルに関連する用語 (4件)： エネルギー ,  パラ-ベンゾキノン ,  電子散乱 ,  断面積