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J-GLOBAL ID：201802246446296056   整理番号：18A1130482

制御された気候条件によるDCストレス下の高分子絶縁体に関するエージング研究【JST・京大機械翻訳】

Aging studies on polymeric insulators under DC stress with controlled climatic conditions

著者 (2件)： Verma Alok Ranjan (High Voltage Laboratory, Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Science, Bangalore, 560012, India) ,  Reddy B. Subba (High Voltage Laboratory, Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Science, Bangalore, 560012, India)
資料名： Polymer Testing  (Polymer Testing)
巻： 68  ページ： 185-192  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0752B  ISSN： 0142-9418  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,制御された気候条件を持つDCストレス下でのシリコーンゴムベースの高分子碍子の長期的なサービス性能を試みた。UV,熱,湿度のDC電気ストレスとの同時適用を特別に作製した気候室に封入した高分子絶縁体に適用した。この応力を採用したサイクルに対して1000時間適用し,近いサービス寿命条件をシミュレートした。漏れ電流を定期的に監視し記録した。実験の後,エージングした試料の試料を,走査電子顕微鏡(SEM)のようなポスト分析と心理化学分析を行い,表面上の元素存在,エネルギー分散X線分析(EDAX)を観察し,材料中の元素存在を観察し,熱重量分析(TGA)を行い,疎水性の損失を測定した。長期間のDC応力による研究は,材料の劣化,解重合およびATHの損失を明らかにした。これは,低い熱安定性をもたらし,熱浸食と早期破壊を加速する。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *気象条件 ,  疎水性 ,  浸食 ,  化学分析 ,  熱重量分析 ,  耐用年数 ,  *気候 ,  湿度 ,  エネルギー散逸 ,  *絶縁体 ,  漏れ電流 ,  熱安定性 ,  *高分子 ,  走査電子顕微鏡
準シソーラス用語： 心理 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (10件)： 老化研究 ,  多重ストレス ,  劣化 ,  高分子絶縁体 ,  シリコーンゴム ,  FTIR ,  SEM ,  EDAX ,  TGA ,  濡れ性

分類 (1件)： 抵抗性  (YH02050K)

タイトルに関連する用語 (7件)： 気候条件 ,  DC ,  ストレス ,  高分子 ,  絶縁体 ,  エージング ,  研究