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J-GLOBAL ID:201802246821413619   整理番号:18A0133992

低温CLEM(HOPE)のための高真空光学プラットフォーム:非統合マルチスケール相関光学顕微鏡と電子顕微鏡のための新しい解【Powered by NICT】

High-vacuum optical platform for cryo-CLEM (HOPE): A new solution for non-integrated multiscale correlative light and electron microscopy
著者 (19件):
資料名:
巻: 201  号:ページ: 63-75  発行年: 2018年 
JST資料番号: W0838A  ISSN: 1047-8477  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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低温相関光と電子顕微鏡(低温CLEM)は低温蛍光顕微鏡法(低温FM)による特異な事象の探索のガイドを備えた低温電子顕微鏡(cryo-EM)による低温ガラス固化体試料の高分解能構造情報を解析するためのユニークな方法を提供する。低温FMを達成するために,対物レンズの温度と性能の間のしなければならないトレードオフ。試料の温度は失透以下に保つ必要がある対物レンズと試料の間の距離は高分解能イメージングのために十分短くする必要がある。多く電流低温FM手法で設計した特殊対物レンズが,unavoided着霜と氷汚染はまだ低温CLEMの効率に影響を与えている。添加では,低温FMおよびcryo-EMの間の相関精度は,現在の試料移動過程で低減すると考えられる。ここでは,高真空光段階と市販cryo-EMホルダに基づく改良された低温CLEM法(低温CLEM,HOPE用高真空光学プラットフォーム)を報告した。HOPE段階は汚染防止システムを有する低温EMホルダと高真空チャンバーに適合するように特別なアダプタで構成されている。低温試料の清浄および永続的な環境を提供しているが,室温における正常な乾燥対物レンズは光学窓を介して使用できる。cryo-EMホルダーによる「タッチ遊離試験片移動は少なくとも試料変形を可能にし,このようにして低温FMおよびcryo-EMの間の相関精度を最大化する。に加えて,低温FMにより局在化した標的領域の半自動クリオ-EM獲得を行うソフトウェアを開発した。著者らの研究は,低温CLEMの新しい解決策を提供し,異なる市販の蛍光顕微鏡と電子顕微鏡のための適合させることができる。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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生体の顕微鏡観察法 

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