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J-GLOBAL ID：201802247037192735   整理番号：18A0147573

インジウム-ガリウム-亜鉛-オキシド薄膜トランジスタに基づくフリッカのない液晶ディスプレイパネルのための設計法【Powered by NICT】

A design method for flicker-free liquid crystal display panels based on indium-gallium-zinc-oxide thin-film transistors

著者 (2件)： Kim Lee-Young (Department of Electronic Engineering, Hanyang University, 222 Wangsimni-ro, Seongdong-gu, Seoul, 133-791, South Korea) ,  Kwon Oh-Kyong (Department of Electronic Engineering, Hanyang University, 222 Wangsimni-ro, Seongdong-gu, Seoul, 133-791, South Korea)
資料名： Journal of the Society for Information Display  (Journal of the Society for Information Display)
巻： 25  号： 9  ページ： 544-553  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0996B  ISSN： 1071-0922  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： インジウム-ガリウム-亜鉛-オキシド(IGZO)薄膜トランジスタ(TFT)に基づく液晶ディスプレイパネルのフリッカを低減するための設計法を提案した。提案した設計法は,低フレーム周波数(F_FRAME)で測定したフリッカを変換フリッカの周波数感度,瞬目と弱い瞬目間の区別できないを測定したフリッカ(MVMF)の修正値へのヒト因子モデルを採用した。フリッカの原因と特性を研究するために,フリッカの周波数成分と増加因子はチェッカーボードおよび固体画像を用いて解析した。フリッカの増加因子はIGZO TFTのしきい値電圧の変化を引き起こす異なるアンテナ比(AR)を持つIGZO TFTを用いて検討した。提案した設計法を検証するために,二種の試験パネルは,非対称および対称ARにより実行された。30Hzの低F_FRAMEで15Hz成分のMVMFsは対称ARと固体画像は62.9dBのMVMF,非対称ARと比較して24.3dB改善を持っていることを示した。,提案した方法は低F_FRAMEでフリッカのない液晶ディスプレイパネルに適用可能である。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： アンテナ ,  *薄膜トランジスタ ,  ヒト ,  画像 ,  周波数 ,  *フリッカ ,  対称性 ,  非対称性 ,  *液晶ディスプレイ ,  *パネル ,  *酸化物
準シソーラス用語： 閾値電圧 ,  酸化インジウム・ガリウム・亜鉛 ,  *設計法 ,  *液晶パネル , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： フリッカ ,  インジウム-ガリウム-亜鉛オキシド ,  薄膜トランジスタ ,  液晶ディスプレイ ,  低フレーム周波数 ,  低消費電力

分類 (1件)： 表示機器  (NC06030Q)

タイトルに関連する用語 (8件)： インジウム ,  ガリウム ,  亜鉛 ,  オキシド ,  薄膜トランジスタ ,  フリッカ ,  液晶ディスプレイパネル ,  設計法