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J-GLOBAL ID：201802248428277402   整理番号：18A0135701

組合せ走査型力顕微鏡と走査型透過X線顕微鏡を用いた有機強誘電体ダイオードの形態の研究【Powered by NICT】

Study of the morphology of organic ferroelectric diodes with combined scanning force and scanning transmission X-ray microscopy

著者 (11件)： Bernard L. (Laboratory for Nanoscale Materials Science, Empa, UEberlandstrasse 129, 8600, Duebendorf, Switzerland) ,  Khikhlovskyi V. (Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, P. O. Box 513, 5600 MB, Eindhoven, The Netherlands) ,  Khikhlovskyi V. (Holst Centre, TNO-The Dutch Organization for Applied Scientific Research, High Tech Campus 31, 5656 AE, Eindhoven, The Netherlands) ,  van Breemen A. (Holst Centre, TNO-The Dutch Organization for Applied Scientific Research, High Tech Campus 31, 5656 AE, Eindhoven, The Netherlands) ,  Michels J.J. (Max Planck Institute for Polymer Research, Ackermannweg 10, 55128, Mainz, Germany) ,  Janssen R. (Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, P. O. Box 513, 5600 MB, Eindhoven, The Netherlands) ,  Kemerink M. (Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, P. O. Box 513, 5600 MB, Eindhoven, The Netherlands) ,  Kemerink M. (Department of Physics, Chemistry and Biology (IFM), Linkoping University, P. O. Box SE-581 83, Linkoping, Sweden) ,  Gelinck G. (Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, P. O. Box 513, 5600 MB, Eindhoven, The Netherlands) ,  Gelinck G. (Holst Centre, TNO-The Dutch Organization for Applied Scientific Research, High Tech Campus 31, 5656 AE, Eindhoven, The Netherlands) ,  Pilet N. (Swiss Light Source, Paul Scherrer Institut, CH-5232, Villigen PSI, Switzerland)
資料名： Organic Electronics  (Organic Electronics)
巻： 53  ページ： 242-248  発行年： 2018年 
JST資料番号： W1352A  ISSN： 1566-1199  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 有機強誘電体ダイオードは興味が増している,非破壊データ読出しと低コスト製造,新規不揮発性メモリ要素の開発における二つの要求を結合した。このようなデバイスの巨視的な電気的特性と性能をそれらの構造特性に強く依存した。それらの全体的な微視的形態の多くの研究が既に報告されている。,異なる走査力とX線顕微鏡を含む多重技術により明らかにし,P(VDF TrFE)F8BT強誘電体ダイオード内にナノメータ規模の予想外の構造を局所的に調べるのに可能にした。強誘電体の局所分極率に対するこれらの構造の強い影響を示した。これらの構造の形成を防ぎ,耐久性とオン/オフ比のような改善された巨視的デバイス性能を示すことを提案した二つの代替作製法。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *走査 ,  構造特性 ,  分極率 ,  多重化 ,  耐久性 ,  *ダイオード ,  不揮発性メモリ ,  *形態 ,  電気的性質 ,  *X線顕微鏡 ,  *強誘電体
準シソーラス用語： ナノメータ ,  *有機強誘電体 ,  *走査型透過X線顕微鏡 ,  *走査型力顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 強誘電体 ,  有機スイッチ ,  Morphology ,  走査型力顕微鏡による研究 ,  X線顕微鏡

分類 (2件)： 高分子固体の物理的性質  (CG02024U) ,  トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (7件)： 組合せ ,  走査型力顕微鏡 ,  走査型透過X線顕微鏡 ,  有機強誘電体 ,  ダイオード ,  形態 ,  研究