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J-GLOBAL ID：201802248490869129   整理番号：18A0028460

SAOCOM CSバイスタティック位相校正と断層撮影性能解析【Powered by NICT】

SAOCOM-CS bistatic phase calibration and tomographic performance analysis

著者 (2件)： Azcueta Mario (POLIMI - Politecnico di Milano) ,  Tebaldini Stefano (POLIMI - Politecnico di Milano)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IGARSS  ページ： 111-114  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： バイスタティックSAR Lバンド取得に影響する位相摂動,multisquintベース補償法のモデルを提示した。は,この方法が位相スクリーンの各成分を識別することができるかを示している,より正確な補正方式を可能にした。位相補償精度は個々のスクリーンの回復とバイスタティックSAR画像の時間領域シミュレーションを生成することにより,断層撮影で評価した。摂動はRAWデータから出発して導入し,続いてmultisquint処理したサブバンドからの各スクリーンを回収し,補正を行っている。最近提案されたSAOCOM CSトモグラフィック配置(準モノスタティック形状)をシミュレーションのための参照として採用した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *トモグラフィー ,  形態 ,  摂動 ,  スクリーン ,  位相補償 ,  *性能分析 ,  画像 ,  *位相
準シソーラス用語： サブバンド ,  バイスタティックSAR , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： レーダ  (ND13010H) ,  電波伝搬一般  (ND05010Q) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： Cs ,  バイ ,  断層撮影 ,  性能解析