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J-GLOBAL ID:201802248542811608   整理番号:18A0968851

成層に関する薄い導体の過熱不安定性【JST・京大機械翻訳】

Overheating instability of a thin conductor with respect to stratification
著者 (2件):
資料名:
巻: 123  号: 13  ページ: 133301-133301-4  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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抵抗率が電気爆発まで上昇する段階での層化に関して,薄い(皮膚深さに比べて)導体の過熱不安定性を考慮した。このような条件下での温度摂動は抵抗率に比例して成長することを示した。モデルにおいて,抵抗率が温度に比例するとき,摂動は温度に比例して成長し,したがって相対成長を示さない。初期の厚さ摂動を持つ導体に対して,温度摂動は抵抗率と電流作用積分に比例して成長する。すなわち,一定厚さの導体の問題における摂動よりもいくらか速い。高温高密度物質発生システムにおける箔の電気加熱中の成層成長のシミュレーションとの比較は,それらの密接な一致を示した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
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電磁気学一般  ,  固体の表面構造一般  ,  磁性材料 
タイトルに関連する用語 (3件):
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