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J-GLOBAL ID：201802249375094441   整理番号：18A0776969

示差走査熱量測定とin-situ X線回折の融合による高分子材料の融解挙動解析

Combination of DSC and in-situ XRD for Analysis of Melting Behavior of Polymeric Materials

著者 (3件)： 上原宏樹 (群馬大学大学院理工学府分子科学部門) ,  増田綾子 (群馬大学大学院理工学府分子科学部門) ,  山延健 (群馬大学大学院理工学府分子科学部門)
資料名： 分析化学
巻： 67  号： 3  ページ： 145-151(J-STAGE)  発行年： 2018年 
JST資料番号： F0008A  ISSN： 0525-1931  CODEN： BNSKAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ポリプロピレンやポリ乳酸といった高分子材料を対象に,昇温過程におけるin-situ X線測定を行い,得られた結果と熱分析結果を比較する新たな解析手法を開発した.広角X線回折(WAXD)により得られた結晶反射強度を温度に対して微分して得られた曲線は,示差走査熱量(DSC)測定で得られた融解曲線とよく一致していた.特に,複数の融解ピークを有する場合や融解ピークと結晶化ピークが重なって複雑な形状を呈する熱分析プロファイルの解析には,本手法が威力を発揮することが確かめられた.また,本知見を活用することで,DSCプロファイルのみからでは同定できなかった異なる結晶型の多重融解成分や結晶化成分の存在を証明することもできた.以上のことから,熱分析データに含まれる情報を最大限に引き出すためには,in-situ計測との融合が極めて有効であることが示された.(著者抄録)

シソーラス用語： *示差走査熱量測定 ,  *X線回折 ,  その場観察 ,  材料 ,  物質 ,  挙動 ,  *融解 ,  熱分析 ,  曲線
準シソーラス用語： *in situ X線回折 ,  広角X線回折 ,  *高分子材料 ,  *融解挙動 ,  融解曲線

著者キーワード (5件)： thermal analysis ,  in-situ ,  X-ray measurement ,  polymer ,  melting

分類 (2件)： 高分子固体の物理的性質  (CG02024U) ,  有機化合物の化学分析  (CC07034C)

引用文献 (31件)：

• 1) 上原宏樹 : 高分子論文集 (Kobunshi Ronbunshu), 64, 525 (2007).
• 2) 上原宏樹,撹上将規,山延 健 : "高分子の結晶制御技術と応用", 鞠谷雄士編,p. 114 (2012), (シーエムシー出版).
• 3) 撹上将規,上原宏樹 : 放射光 (Houshakou), 20, 356 (2007).
• 4) K. Tashiro, S. Sasaki, M. Kobayashi : Macromolecules, 29, 7460 (1996).
• 5) P. Pan, W. Kai, B. Zhu, T. Dong, Y. Inoue : Macromolecules, 40, 6898 (2007).

タイトルに関連する用語 (6件)： 示差走査熱量測定 ,  X線回折 ,  融合 ,  高分子材料 ,  融解挙動 ,  解析