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J-GLOBAL ID：201802249777526099   整理番号：18A0577033

黒人と白人のストライプ間の光のエッジを用いた高分子偏光子における非常にわずかな審美的欠陥の検査【Powered by NICT】

Inspection of extremely slight aesthetic defects in a polymeric polarizer using the edge of light between black and white stripes

著者 (5件)： Deng Yuan-long (College of Mechatronics and Control Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, China) ,  Xu Shao-peng (College of Mechatronics and Control Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, China) ,  Chen Hao-quan (College of Mechatronics and Control Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, China) ,  Liang Zhan-heng (College of Mechatronics and Control Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, China) ,  Yu Ci-long (College of Mechatronics and Control Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, China)
資料名： Polymer Testing  (Polymer Testing)
巻： 65  ページ： 169-175  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0752B  ISSN： 0142-9418  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マシンビジョンシステムは自動化と非接触検査のようなそれらの利点のために工業生産ラインに広く使用されている。高分子偏光子における欠陥の検出は,マシンビジョンの典型的な応用である。高分子偏光子における極端にわずかな透明審美的欠陥(ESTADs)は白色光と構造化光のような従来の照明を用いて画像化できない。それ故,本研究は,構造化光照射における光のエッジを用いてESTADsを検出するための新しい自動検査法を提案し,これは画像コントラストを著しく増強することがわかった。光学モデルを画像増強機構を調べるために確立した。シミュレーション結果は実験結果と一致し,照明原理もイメージング現象を解釈するために決定した。最後に,アクティブ照明走査はこの検査方式の実現可能性を実証するために実施した;提案した方法は,高分子膜と製品中の欠陥の実時間およびin situ検査のための効率的である。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 自動化 ,  高分子膜 ,  走査 ,  白色光 ,  シミュレーション ,  画像強調 ,  *偏光子 ,  *高分子 ,  照明
準シソーラス用語： 画像コントラスト ,  画像化 ,  構造化光 ,  マシンビジョン ,  *審美性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： マシンビジョン ,  欠陥検査 ,  光のエッジ ,  画像増強機構 ,  高分子偏光子 ,  超軽透明審美的欠陥

分類 (4件)： 抵抗性  (YH02050K) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  物理的性質一般  (YH02021U)

タイトルに関連する用語 (8件)： 黒人 ,  白人 ,  エッジ ,  高分子 ,  偏光子 ,  審美 ,  欠陥 ,  検査