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J-GLOBAL ID:201802250520811584   整理番号:18A1087188

パワーモジュールリードボンディング界面温度サイクルでの寿命予測【JST・京大機械翻訳】

Life prediction of bonding interface in power module under thermal cycling loading
著者 (5件):
資料名:
巻: 35  号:ページ: 73-78  発行年: 2018年 
JST資料番号: C3426A  ISSN: 1001-4551  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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温度サイクルの下のパワーモジュールの疲れ故障の問題を解決するために,温度サイクルの下のパワーモジュールの疲れ寿命を研究した。数値シミュレーションとサブモデル技術を用いて,ワイヤボンディングの危険部位を決定し,Coffin-Manson疲れ寿命予測理論に従って,上記リードボンディング界面の寿命予測を行った。同時に、内力モデルと損傷進化理論に基づき、寿命予測方法を提案し、ABAQUSソフトウェアのユーザー定義プログラムインタフェースUELを利用して、相応のプログラムを作成した。結果は,2つの寿命予測方法には,一定の適応性があり,そして,サイクル内の凝集力モデルのシミュレーションが,実験結果と一致した結果を得ることができ,そして,結合界面の故障プロセスを再現できることを示した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
著者キーワード (4件):
分類 (3件):
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  固体デバイス製造技術一般  ,  接続部品 
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