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J-GLOBAL ID：201802251140170441   整理番号：18A0338218

ナノ材料における複雑な界面構造を調べるためのin situ S/TEM実験における原子分解能を達成する【Powered by NICT】

Achieve atomic resolution in in situ S/TEM experiments to examine complex interface structures in nanomaterials

著者 (1件)： Jinschek Joerg R. (FEI Company, Materials Science BU, Eindhoven, The Netherlands)
資料名： Current Opinion in Solid State & Materials Science  (Current Opinion in Solid State & Materials Science)
巻： 21  号： 2  ページ： 77-91  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2155A  ISSN： 1359-0286  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型/透過型電子顕微鏡を用いたキャラクタリゼーション法は,ナノ材料の界面構造を調べるためのルーチン技術となっている。高分解能イメージング法は,原子構造を明らかにする分光法は,元素分布および化学結合に付加的なアクセスを与えた。これらの開発の背後にある焦点は,ナノ材料に基づく技術に関する研究である。S/TEM研究における現在の傾向は,動的研究への静止からの原子スケールキャラクタリゼーション能力を高めるその特徴的な長さスケールで直接構造間のリンクとその進化対特異な性質をより詳細に理解することに焦点を当てた。これらの原子スケールその場実験中の制御下での電子ビームの効果を維持すると,最近の研究の進歩を簡単にレビュー原子スケール研究のための最適化最新S/TEM法を用いた場合,これは可能な限り高い分解能と感度を達成し,維持するかに及ぼす界面効果のその場研究に拡張し,続いてコメントできるか可能性を明らかにすることである。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 最適化 ,  電子ビーム ,  キャラクタリゼーション ,  化学結合 ,  透過型電子顕微鏡 ,  *分解能 ,  原子構造 ,  *界面 ,  走査 ,  *ナノ材料
準シソーラス用語： 原子スケール ,  元素分布 ,  高精細画像 ,  *原子分解能 ,  *界面構造 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 先進電子顕微鏡観察 ,  その場電子顕微鏡法 ,  原子分解能 ,  インタフェイス

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

タイトルに関連する用語 (5件)： ナノ材料 ,  界面構造 ,  TEM ,  実験 ,  原子分解能