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J-GLOBAL ID:201802251583895572   整理番号:18A0677027

ストライプ投影と位相偏向測定技術の研究進展【JST・京大機械翻訳】

Review of fringe-projection profilometry and phase measuring deflectometry
著者 (5件):
資料名:
巻: 46  号:ページ: 185-194  発行年: 2017年 
JST資料番号: C2521A  ISSN: 1007-2276  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
抄録/ポイント:
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ストライプ投影と位相偏位測定は,正確に表面形状を測定するために使用でき,全場光学三次元輪郭測定の分野において良好な展望を持っている。まず、ストライプ投影と位相偏折測量技術の基本原理を紹介し、重点的にこれら二つの技術における位相抽出技術、カメラキャリブレーション技術などの重要な技術を紹介した。第二に,2つの測定方法の間の差異を,ストライプ投影と位相偏位測定によって比較した。最後に,測定精度と速度を向上させるために,ストライプ投影と位相偏位測定技術の開発を紹介した。測定精度を向上させるために,主に補正ガンマ線ガンマ効果,位相抽出精度,カメラキャリブレーション精度,位相-高さ/勾配キャリブレーション精度などがある。測定速度を向上させるために、主に位相抽出速度、位相解包速度などの方法を向上させる方法がある。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
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