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J-GLOBAL ID:201802251803506547   整理番号:18A0160974

カプセル化シリコン太陽電池上のたわみと応力の定量的マッピング【Powered by NICT】

Quantitative Mapping of Deflection and Stress on Encapsulated Silicon Solar Cells
著者 (6件):
資料名:
巻:号:ページ: 189-195  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2305A  ISSN: 2156-3381  CODEN: IJPEG8  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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光起電力モジュールの積層プロセスは高温・高圧の応用,ガラス,太陽電池,高分子封止材料とバックシートを含む個々の層の膨張と収縮の異なる量を紹介した本質的に依存する。はこれらの効果は,たわみと応力の形で細胞へと転換されることを疑いがない。これまでが,このの唯一の結果は破壊モードに関して 微小亀裂,剥離,応力点などで追跡した。一般的アプローチは,封止剤の特性に焦点を当てて,架橋度,透湿性,及びそれらの長期寿命のようなプロセスを最適化し,太陽電池に及ぼすそれらの影響見落としに適用した。モジュール信頼性は,平準化された発電コストとプロジェクトの担保可能性を低下させる主要因であり,活性成分の観点から 細胞の点から予測故障解析とモジュール構成要素の最適化に置かれた一層の努力が必要である。本論文では,完全に集合したモジュール内部の高分子カプセル化下での太陽電池の状態を評価するための新しいアプローチとして社内X線ベース技術を提案した。は亀裂と微小欠陥の評価だけでなく,封止パッケージ内細胞たわみと応力分布だけでなく初めてのアクセスを与える。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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太陽電池 

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