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J-GLOBAL ID：201802253495904824   整理番号：18A1679570

FIBによるバンドギャップ始動回路の故障解析と改善【JST・京大機械翻訳】

Failure Analysis and Improvement of Bandgap Start-up Circuit by FIB

著者 (4件)： Ruoyuan Qu (China Aerospace Components Engineering Center, China Academy of Space Technology, Beijing, 100094, China) ,  Jiajia Sun (Electronic Components Reliability Engineering Center, China Academy of Space Technology, Beijing, 100094, China) ,  Wei Zhang (China Aerospace Components Engineering Center, China Academy of Space Technology, Beijing, 100094, China) ,  Xin Gong (Electronic Components Reliability Engineering Center, China Academy of Space Technology, Beijing, 100094, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IPFA  ページ： 1-4  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ADCの異常動作電流の故障解析事例に基づいて,ステップバイステップ故障位置法を本論文で紹介した。この方法を用いて故障を位置決めし,FIB(集束イオンビーム)技術を用いて故障位置の精度を検証した。一方,もう一つのシミュレーション検証法を採用し,故障理由がプロセスの矛盾によって引き起こされたバンドギャップ始動回路におけるコア容量の減少にあることを明らかにした。最後に,類似の故障における高速位置を支援し,このリスクが将来の関連設計において効果的に回避できることを保証するために,いくつかの提案を提案した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  *故障解析 ,  電流 ,  集束イオンビーム ,  高速度 ,  *故障 ,  *バンドギャップ

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： FIB ,  バンドギャップ ,  始動 ,  故障解析