文献

J-GLOBAL ID：201802253647914052   整理番号：18A1810934

CARESに基づく捕獲安全静的試験圧縮法【JST・京大機械翻訳】

A Capture Safe Static Test Compaction Method Based on Don’t Cares

著者 (4件)： Ochi Sayuri (Graduate School of Industrial Technology, Nihon University Chiba, Chiba, JAPAN) ,  Yamazaki Hiroshi (College of Industrial Technology, Nihon University Chiba, Chiba, JAPAN) ,  Hosokawa Toshinori (College of Industrial Technology, Nihon University Chiba, Chiba, JAPAN) ,  Yoshimura Masayoshi (Faculty of Information Science and Engineering, Kyoto Sangyo University Kyoto, Chiba, JAPAN)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IOLTS  ページ： 195-200  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近年,VLSI回路の密度と複雑さにより試験ベクトルの数が増加している。テスト圧縮技術は,故障範囲を失うことなく試験ベクトルの数を減らすことができる。しかし,各圧縮試験ベクトルがより多くの故障を検出するので,1つの試験ベクトル当たりの過渡信号線の数は増加する。したがって,走査試験における過剰な捕獲電力消費は過剰なIR降下を引き起こし,不要な収率損失を引き起こす可能性がある。本論文では,生成した試験ベクトルが捕獲安全であることを保証する静的試験圧縮法を提案した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ベクトル ,  *安全性 ,  電力消費 ,  故障 ,  走査 ,  *捕獲 ,  圧縮試験
準シソーラス用語： *静的試験 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： 捕獲 ,  静的試験