文献

J-GLOBAL ID：201802254116713675   整理番号：18A1431776

転がり軸受のためのエンベロープ次数トラッキングとCICAの組合せに基づく故障特徴抽出【JST・京大機械翻訳】

Fault feature extraction based on combination of envelope order tracking and cICA for rolling element bearings

著者 (6件)： Yang Tangfeng (Key Lab. of Vib. & Noise under Ministry of Education of Yunnan Province, Kunming University of Science and Technology, Kunming 650500, China) ,  Yang Tangfeng (Technology Center, Kunming Yunnei Power Co., Ltd, Kunming 650224, China) ,  Guo Yu (Key Lab. of Vib. & Noise under Ministry of Education of Yunnan Province, Kunming University of Science and Technology, Kunming 650500, China) ,  Wu Xing (Key Lab. of Vib. & Noise under Ministry of Education of Yunnan Province, Kunming University of Science and Technology, Kunming 650500, China) ,  Na Jing (Key Lab. of Vib. & Noise under Ministry of Education of Yunnan Province, Kunming University of Science and Technology, Kunming 650500, China) ,  Fung Rong-Fong (Department of Mechanical and Automation Engineering, National Kaohsiung First University of Science and Technology, Kaohsiung 824, Taiwan)
資料名： Mechanical Systems and Signal Processing  (Mechanical Systems and Signal Processing)
巻： 113  ページ： 131-144  発行年： 2018年 
JST資料番号： T0514A  ISSN： 0888-3270  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 回転要素軸受(REBs)の初期故障からの振動は通常のスペクトル解析ではあまりにも弱すぎる。エンベロープ解析または高周波共鳴技術は,REBsの初期故障検出のための有効なツールである。エンベロープ解析の改良版である新しく開発されたエンベロープ次数追跡は,変動速度条件でも良く実行できる。しかし,エンベロープ次数追跡は,多重インパルス源に対して無効である。この問題を扱うために,エンベロープ順序追跡と制約独立成分分析(cICA)を組み合わせることにより,故障したREBsの弱い特徴抽出のための方式を提案した。提案した方式において,エンベロープ次数追跡手法を用いて,異なる位置におけるセンサ観測混合物のエンベロープを得た。次に,エンベロープを,計算した順序追跡(COT)における一定角度増分再サンプリング方式によって,時間領域から角度領域に変えた。続いて,cICA法を用いて,参照信号により興味あるエンベロープ独立成分(IC)を抽出した。これは,ベアリングの事前に知られた特徴周波数に従って構成される。結果として,欠陥関連の特徴は,得られた興味あるエンベロープICのスペクトルに明確に露出することができる。シミュレーションと実験結果は,提案方法を明らかに支持した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 多重化 ,  *転がり軸受 ,  共鳴 ,  *特徴抽出 ,  HF【周波数】 ,  軸受 ,  独立成分分析 ,  スペクトル ,  スペクトル解析 ,  基準信号 ,  *エンベロープ ,  センサ ,  *故障
準シソーラス用語： 時間領域 ,  *次数 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 制約付き独立成分分析 ,  エンベロープ解析 ,  特徴抽出 ,  次数トラッキング ,  転がり軸受

分類 (1件)： 軸受  (QB01020W)

タイトルに関連する用語 (7件)： 転がり軸受 ,  エンベロープ ,  次数 ,  トラッキング ,  組合せ ,  故障 ,  特徴抽出