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J-GLOBAL ID：201802254981622332   整理番号：18A1808566

電気的エージング過程の間の球状空洞における部分放電活性の測定とシミュレーション【JST・京大機械翻訳】

Measuring and Simulating Partial Discharge Activity in a Spherical Cavity during Electrical Ageing Processes

著者 (3件)： Tanmaneeprasert T. (School of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Southampton, United Kingdom) ,  Lewin P.L. (School of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Southampton, United Kingdom) ,  Callender G. (School of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Southampton, United Kingdom)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ICD  ページ： 1-4  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,加速劣化条件下の空気充填空洞における部分放電(PD)活性を考察した。時効中に,空洞内のPDsは,表面浸食をもたらし,最終的に完全な破壊をもたらす荷電粒子を有する内部空洞表面に衝突する。位相分解部分放電(PRPD)パターンの時間発展は,浸食された正孔の形成の証拠を示す。明確なパターンに対するPD統計量の解析を,見かけの電荷とサイクル当たりのPDs数に関して得た。空洞半径,材料厚さ,印加電圧および相対誘電率のような試験試料の物理的パラメータを用いて有限要素解析(FEA)モデルを実行し,それを用いてPDモデルを開発した。シミュレーションしたPD挙動をPRPDパターンと統計量で解析し,測定結果と比較した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 時間発展 ,  統計量 ,  *部分放電 ,  時効 ,  荷電粒子 ,  誘電率 ,  位相 ,  正孔
準シソーラス用語： 有限要素解析 ,  印加電圧 ,  加速劣化 ,  *劣化過程 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： エージング過程 ,  球状 ,  空洞 ,  部分放電 ,  活性 ,  シミュレーション