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J-GLOBAL ID：201802255384657505   整理番号：18A0407573

自動生産設備におけるプロセス統合測定を応用した故障解析と補正【Powered by NICT】

Fault analysis and correction by applying process-integrated measurement in automated production facilities

著者 (5件)： Baum Jens (Faculty of Economic Sciences Westsaechsische Hochschule Zwickau, University of Applied Sciences Zwickau, Germany) ,  Otto Frank (Faculty of Economic Sciences Westsaechsische Hochschule Zwickau, University of Applied Sciences Zwickau, Germany) ,  Kauper Julia (Faculty of Economic Sciences Westsaechsische Hochschule Zwickau, University of Applied Sciences Zwickau, Germany) ,  Klein Thomas (Faculty of Economic Sciences Westsaechsische Hochschule Zwickau, University of Applied Sciences Zwickau, Germany) ,  Schumann Christian-Andreas (Faculty of Economic Sciences Westsaechsische Hochschule Zwickau, University of Applied Sciences Zwickau, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICE/ITMC  ページ： 888-893  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ビジネスのために高品質はその競争力を維持・向上に非常に重要な基準である。自動車分野の例に要求される品質標準を確実にするために,サンプリング法は一般的な方法である。これは生産ライン指定された時間枠の終わりに特別な品質測定装置への多くの製品をした。新しい3D測定法は光学系を用いて,可変数ステレオカメラユニットの生産ラインに統合することができるから成っていた。は短い時間間隔における3次元表面の高精度測定を可能にし,従って企業は生産ラインのタクト内の各製品の一致した品質をチェックすることを可能にする。これらの測定システムは,ステレオ写真と写真測量を用いる走査製品の3Dモデル,予め定義された標準的な3Dモデルと比較できるを作成した。この比較は比較したモデルの間の偏差を検出した場合品質管理システムは,予め定義された破壊カタログからの知識を利用してこれらの偏差を同定することができ,それによって故障の原因と同様にその起源を同定することができる。次の段階では断層起源に関する情報を用いて,故障とその原因についての供給チェーンに沿った適切な位置を知らせることである。さらに可能な欠陥の高速除去を可能にするだけでなく,企業内企業家精神行動を引き起こすに必要な維持段階のためのガイドラインと保守員を供給するために使用した。測定システムの概要,ならびに光学測定プロセスから得られたデータに基づく自動故障検出と補正のための概念とルールベースシステムの応用を与えた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ステレオ音響 ,  三次元測定 ,  品質基準 ,  光学的測定 ,  光学系 ,  生産ライン ,  計測システム ,  *故障解析 ,  品質 ,  写真測量 ,  故障検出 ,  *生産設備 ,  モデル ,  三次元モデル
準シソーラス用語： サプライチェーン , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 写真測量,空中写真  (RC02040D) ,  経営工学一般  (KA01010C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 設備 ,  プロセス統合 ,  応用 ,  故障解析