適応多変量二重サンプリングと可変サンプリング間隔HotellingのT2チャート【JST・京大機械翻訳】

Khatun Mahfuza; Khoo Michael B.C.; Yeong W.C.; Teoh W.L.; Chong Z.L.

文献

J-GLOBAL ID：201802255494866812 整理番号：18A1348922

適応多変量二重サンプリングと可変サンプリング間隔HotellingのT2チャート【JST・京大機械翻訳】

Adaptive multivariate double sampling and variable sampling interval Hotelling’s T² charts

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巻： 34 号： 5 ページ： 894-911 発行年： 2018年
JST資料番号： C0764C ISSN： 0748-8017 CODEN： QREIE5 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

本論文では,二重サンプリング(DS)と可変サンプリング間隔(VSI)特徴を組み合わせた適応多変量二重サンプリング可変サンプリング間隔T2(AMDSVSI T2)と適応多変量二重サンプリング可変サンプリング間隔T2(AMDSVSIC T2)チャートと呼ばれる二つの適応多変量チャートを提案した。提案したチャートを用いることの実際の目的は,チャートの感度を強化できるように,DS T2チャートのサンプリング間隔長を変えることにより柔軟性を提供することである。提案した2つのチャート間の基本的な違いは,第2のサンプルを取ると,AMDSVSI T2チャートは組合せサンプル平均ベクトルの情報を用いるが,AMDSVSIC T2チャートはプロセス状態に関する決定においてT2統計の組合せの情報を用いることである。本研究は,文献における既存の結合したDS XとVSI Xチャートによって動機づけて,それは標準のDS Xチャートに関して説得力のある性能改良を示した。したがって,多変量の場合にこの既存のアプローチを採用することは,提案された優れた多変量DSチャートを可能にすると信じられる。数値結果により,提案チャートは,ゼロ状態および定常状態の場合に対して,平均ベクトルのシフトを検出する際に,既存の標準T2および他の適応多変量チャートより優れていることを示した。平均ベクトルのシフトサイズが未知であるときの両チャートの性能も測定した。AMDSVSI T2チャートの応用例を示した。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

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統計的品質管理

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