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J-GLOBAL ID：201802256100376602   整理番号：18A0159851

強化された二次電子放出を有する高電圧オープンパルス放電におけるピコ秒絶縁破壊【Powered by NICT】

Picosecond Breakdown in High-Voltage Open Pulse Discharge With Enhanced Secondary Electron Emission

著者 (6件)： Schweigert I. V. (Khristianovich Institute of theoretical and applied mechanics, Novosibirsk, Russia) ,  Alexandrov A. L. (Khristianovich Institute of theoretical and applied mechanics, Novosibirsk, Russia) ,  Gugin P. P. (Rzhanov Institute of semiconductors physics, Novosibirsk, Russia) ,  Lavrukhin M. A. (Rzhanov Institute of semiconductors physics, Novosibirsk, Russia) ,  Bokhan P. A. (Rzhanov Institute of semiconductors physics, Novosibirsk, Russia) ,  Zakrevsky D. E. (Rzhanov Institute of semiconductors physics, Novosibirsk, Russia)
資料名： IEEE Transactions on Plasma Science  (IEEE Transactions on Plasma Science)
巻： 45  号： 12  ページ： 3202-3208  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0036B  ISSN： 0093-3813  CODEN： ITPSBD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 300ps破壊は10~20nsの範囲の上昇時間電圧パルスを適用した対向伝搬電子ビームによる高電圧開放放電の実験で記録された。放電電圧5~13kVのヘリウム中で10~35Torrで中央面における二陰極とグリッド陽極の動作する。セル内粒子モンテカルロ衝突(PIC MCC)シミュレーションで示されたイオン化と励起過程における電子,イオン及び高エネルギー原子の寄与は現在の開発のための重要なことである。放電電流の変化に対するいろいろな発光カソード材料(チタン,炭化けい素,CuAlMg合金)の影響を実験および速度論的PIC MCCシミュレーションで研究した。陰極からの二次電子放出は,破壊の最終段階での支配的過程であることが分かった。電流成長速度は高い二次電子放出収率を持つカソードに対し,大きく(最大700cm~2ns)。カソード材料,印加電圧振幅とガス圧を選択することにより,気体絶縁破壊の特性時間を低減することができる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *放電 ,  チタン ,  電子ビーム ,  イオン ,  *絶縁破壊 ,  シミュレーション ,  *二次電子放出 ,  ヘリウム ,  電流 ,  *パルス放電 ,  炭化ケイ素
準シソーラス用語： 印加電圧 ,  放電電流 ,  放電電圧 ,  パルス電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 気体放電  (BJ03020T) ,  プラズマ応用  (BJ02110K)

タイトルに関連する用語 (6件)： 強化 ,  二次電子放出 ,  高電圧 ,  パルス放電 ,  ピコ秒 ,  絶縁破壊