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J-GLOBAL ID：201802256136575553   整理番号：18A0507877

小型CCDベースの分光計のノイズ除去分析【Powered by NICT】

Denoising analysis of compact CCD-based spectrometer

著者 (6件)： Huang Chan (Key Laboratory of Special Display Technology of the Ministry of Education, National Engineering Laboratory of Special Display Technology, National key Laboratory of Advanced Display Technology, Academy of Photoelectric Technology, Hefei University of Technology, Hefei, 230009, China) ,  Xia Guo (Key Laboratory of Special Display Technology of the Ministry of Education, National Engineering Laboratory of Special Display Technology, National key Laboratory of Advanced Display Technology, Academy of Photoelectric Technology, Hefei University of Technology, Hefei, 230009, China) ,  Jin Shiqun (Key Laboratory of Special Display Technology of the Ministry of Education, National Engineering Laboratory of Special Display Technology, National key Laboratory of Advanced Display Technology, Academy of Photoelectric Technology, Hefei University of Technology, Hefei, 230009, China) ,  Hu Mingyong (Key Laboratory of Special Display Technology of the Ministry of Education, National Engineering Laboratory of Special Display Technology, National key Laboratory of Advanced Display Technology, Academy of Photoelectric Technology, Hefei University of Technology, Hefei, 230009, China) ,  Wu Su (Key Laboratory of Special Display Technology of the Ministry of Education, National Engineering Laboratory of Special Display Technology, National key Laboratory of Advanced Display Technology, Academy of Photoelectric Technology, Hefei University of Technology, Hefei, 230009, China) ,  Xing Jinyu (School of Instrument Science and Opto-Electronics Engineering, Hefei University of Technology, Hefei, 230009, China)
資料名： Optik  (Optik)
巻： 157  ページ： 693-706  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0251A  ISSN： 0030-4026  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： CCD分光計は,スペクトルの迅速で正確な測定のための多くの分野で広く使用されている。本論文では,まずOcean Optics USB4000分光計を用いて,種々の雑音現象,読出し雑音,光電子雑音,暗雑音と固定パターン雑音を解析した。第二に,CCD分光計の雑音モデルは雑音現象の理論解析に基づいて構築した。数雑音制限技術を異なる雑音レベルを有する広帯域スペクトルと線スペクトルに適用した。最後に雑音除去結果を比較することにより,最適な雑音除去アルゴリズムは異なるスペクトル特性と騒音レベルのために提案した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 線スペクトル ,  スペクトル ,  雑音除去 ,  光電子 ,  広帯域 ,  雑音 ,  アルゴリズム ,  雑音指数 ,  スペクトル解析 ,  *分光計 ,  騒音レベル
準シソーラス用語： スペクトル特性 ,  理論解析 ,  雑音モデル ,  固定パターン雑音 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 分光計と分光法 ,  CCD ,  スペクトル解析

分類 (2件)： 分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (4件)： CCD ,  分光計 ,  ノイズ除去 ,  分析