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J-GLOBAL ID:201802256227335872   整理番号:18A0244918

ディジタル通信アナライザにおける時間領域反射率測定モジュールのためのキャリブレーション【Powered by NICT】

Calibration for time domain reflectometry modular in digital communication analyzer
著者 (1件):
資料名:
巻: 2017  号: ICEMI  ページ: 259-262  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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ディジタル回路のクロック周波数とデータレートが大幅に高くなるとして,信号完全性はますます重要になってきた。信号伝送路のインピーダンス不整合は,信号反射を引き起こし,信号品質を減少させることができるので,信号伝達経路におけるインピーダンスを理解し,制御する必要がある。インピーダンス測定中に,好ましい方法は時間領域反射率測定(TDR),TDRモジュールを備えた高性能ディジタル通信アナライザを使用する。これら企業におけるTDRモジュールを装備したディジタル通信アナライザの多くは毎年を較正し,上海研究所測定と試験技術のに送られる必要がある。しかしこれまで,TDRモジュールの適切な検証調節またはキャリブレーション仕様を国内発行されていない。顧客のキャリブレーション要求,パルスパラメータキャリブレーションの経験の多くの年を満たす,Tektronix社とAgilent技術により作製したTDRモジュールの技術的仕様を研究する,パルスパラメータ実験室における標準装置を駆使し慎重にために,ディジタル通信アナライザのTDRモジュールを較正し,顧客の要求を満たす。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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プリント回路  ,  半導体集積回路 
タイトルに関連する用語 (5件):
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