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J-GLOBAL ID：201802256400691980   整理番号：18A2039470

方位角誘電率パターンの完全偏光Lバンド輝度温度シグネチャ 測定とモデルシミュレーション【JST・京大機械翻訳】

Fully Polarimetric L-Band Brightness Temperature Signatures of Azimuthal Permittivity Patterns - Measurements and Model Simulations

著者 (8件)： Sobioerg Sten Schmidl (Technical University of Denmark, National Space Institute (DTU Space), Lyngby, Denmark) ,  Link Moritz (German Aerospace Center, Microwaves and Radar Institute, Munchner Strasse 20, Wessling, 82234, Germany) ,  Jagdhuber Thomas (German Aerospace Center, Microwaves and Radar Institute, Munchner Strasse 20, Wessling, 82234, Germany) ,  Montzka Carsten (Forschungszentrum Juelich, Institute of Bio- and Geosciences: Agrosphere (IBG-3), Julich, Germany) ,  Jonard Francois (Forschungszentrum Juelich, Institute of Bio- and Geosciences: Agrosphere (IBG-3), Julich, Germany) ,  Dill Stephan (German Aerospace Center, Microwaves and Radar Institute, Munchner Strasse 20, Wessling, 82234, Germany) ,  Peichl Markus (German Aerospace Center, Microwaves and Radar Institute, Munchner Strasse 20, Wessling, 82234, Germany) ,  Meyer Thomas (Forschungszentrum Juelich, Institute of Bio- and Geosciences: Agrosphere (IBG-3), Julich, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IGARSS  ページ： 6500-6503  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 陸上のLバンドマイクロ波放射測定は,水平(H)と垂直(V)偏光輝度温度の観測に主に焦点を合わせている。しかし,完全なStokesベクトルの測定は,例えば方位角方向の植物列の方向性に対する付加的な環境特性に対して高感度であることが示されている。さらに,モデルシミュレーションにより,周期的誘電率パターンをもつ滑らかな表面もStokesパラメータの方位依存性を引き起こすことを示した。本論文の目的は,小さなステップで360°回転させたときの,縞状木材とスチロールターゲットの観察からの完全偏光測定Lバンド測定結果を提示することである。また,縞状土壌と開放水ターゲットの測定結果についても報告した。最後に,測定値をモデルシミュレーションと比較し,モデルの妥当性範囲(ストライプ厚さ<λ/2)内で非常に良い一致を得た。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *誘電率 ,  高感度 ,  陸地 ,  偏光測定 ,  *輝度温度 ,  *方位角 ,  指向性 ,  Stokesパラメータ ,  木材 ,  *偏光
準シソーラス用語： 方向依存性 ,  Stokesベクトル ,  マイクロ波放射 ,  *Lバンド , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 方位角 ,  誘電率 ,  Lバンド ,  輝度温度 ,  シグネチャ ,  モデルシミュレーション