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J-GLOBAL ID:201802256968142866   整理番号:18A0403724

多変量曲線分解と結合した減衰全反射Fourier変換赤外マッピングによる高分子材料中の微量添加物の同定【Powered by NICT】

Identification of trace additives in polymer materials by attenuated total reflection Fourier transform infrared mapping coupled with multivariate curve resolution
著者 (4件):
資料名:
巻: 180  ページ: 154-160  発行年: 2017年 
JST資料番号: E0128B  ISSN: 1386-1425  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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多変量曲線分解(MCR)を,Fourier変換赤外(FTIR)イメージングの分析に適用されているが,成分の数を決定するための問題である。現在報告されている方法は低濃度見逃しの成分を引き起こす傾向がある。本論文では,新しいアイデアは,この問題を解決するために提案した。最初に,MCR計算は成分の数の増加によって反復し,生じたMCR成分の各検索された純粋なスペクトルは,対応するMCR地図における局所的な高濃度の実際のピクセルスペクトルと比較した。一つの成分はMCR成分の特徴的なバンドはその画素スペクトルに含まれた場合にのみ確認した。この考えは高分子材料中の微量添加物を同定するための減衰全反射(ATR)/FTIRマッピングに適用し,満足すべき結果が得られた。この新しい方法の成功した実証は,高分子材料中の添加剤の分析のための新しい可能性を開く。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (5件):
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有機化合物の物理分析  ,  粒状物調査測定  ,  有機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  ,  分光分析  ,  無機化合物の赤外・Ramanスペクトル(分子) 

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