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J-GLOBAL ID：201802257181507335   整理番号：18A0970747

AFMと蛍光の同時イメージング:2Dガルバノメータを用いた励起ビームによるAFMチップのアラインメント法【JST・京大機械翻訳】

Simultaneous AFM and fluorescence imaging: A method for aligning an AFM-tip with an excitation beam using a 2D galvanometer

著者 (2件)： Moores A. N. (Department of Physics and Astronomy, University of Sheffield, Sheffield S3 7RH, United Kingdom) ,  Cadby A. J. (Department of Physics and Astronomy, University of Sheffield, Sheffield S3 7RH, United Kingdom)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 89  号： 2  ページ： 023708-023708-7  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 相関蛍光および原子間力顕微鏡(AFM)イメージングは,蛍光イメージングの特異性によりその位置が知られている特定の構造の力および機械的測定を可能にする,生物学的イメージングにおける使用のための非常に魅力的な技術である。これらの2つの測定を同時に実行する能力(後処理相関によるものよりも)は,試料の変化が起こる時に,時間にわたって追跡される構造の機械的性質を可能にするので,非常に価値がある。AFMと蛍光イメージングの同時測定を可能にする装置をAFMチップによる入射蛍光励起ビームのアラインメントにより示した。アラインメントは,励起ビーム経路に存在する2Dガルバノメータを較正し,入射ビームを再配置するために行った。AFMと蛍光画像の間のサンプルの特徴を相関させる2つのプログラムを開発し(1つのマニュアルと1つの自動化),AFMチップに向かって入射ビームを変換するのに必要な距離を計算した。この方法を用いて,プログラムの2つの反復において,>15μmのオフセットから1ミクロン以内までのビーム-チップアラインメント(従って視野アラインメント)を得ることができた。AFMと光学画像の間のリアルタイムフィードバックのためのデータ収集に沿ったプログラム実行により,このオフセットは数時間の期間にわたって維持された。これにより,両技術を用いて大面積画像を画像化する必要があるだけでなく,視野の重なりを保証するために,この装置をチップ増強蛍光応用に利用する可能性があり,超解像画像が以前に達成された技術である。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *蛍光 ,  超解像 ,  自動化 ,  同時計測 ,  データ収集 ,  *検流計 ,  *画像処理 ,  機械的性質 ,  原子間力顕微鏡 ,  オフセット ,  *励起 ,  *アラインメント ,  *二次元
準シソーラス用語： 蛍光イメージング ,  *AFMチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (9件)： AFM ,  蛍光 ,  イメージング ,  2D ,  ガルバノメータ ,  励起 ,  ビーム ,  AFMチップ ,  アラインメント