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J-GLOBAL ID:201802257550418652   整理番号:18A0796733

熱蒸発により作製したZnTe薄膜の性質に及ぼす角度堆積の影響【JST・京大機械翻訳】

Influence of angle deposition on the properties of ZnTe thin films prepared by thermal evaporation
著者 (4件):
資料名:
巻: 44  号:ページ: 10130-10140  発行年: 2018年 
JST資料番号: H0705A  ISSN: 0272-8842  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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ZnTeの薄膜を,熱蒸着により0°,20°,40°,60°および80°の角度で蒸着した。ZnTe薄膜の化学的,構造的,形態的,光学的および光電流特性を調べた。膜の元素組成をエネルギー分散X線分光法(EDX)とX線光電子分光法(XPS)により調べた。EDXとXPS分析は,より低い角度(0°と20°)で,堆積した膜は40°でTeに富み,堆積した膜はほぼ化学量論的であることを示した。そして,より高い角度(60°と80°)では,堆積した膜はZnリッチであった。X線回折(XRD)分析は,すべての膜が多結晶であることを示した。X線回折パターンは,低角度堆積膜がTe元素に属する2θ=36.47°で余分なピークを持つことを示した。原子間力顕微鏡分析により,膜の表面粗さは,傾斜角により増加したシャドウイング効果のため,蒸着角を0°から80°に増加することにより増加することが明らかになった。これらの膜における高い金属Zn含有量のために,高角度堆積膜(ZnTe-60°,ZnTe-80°)は,低角度堆積膜に比べて透過率が低く,反射率が高いことが観察された。電流-電圧(I-V)測定は,ほぼ化学量論的(ZnTe-40°)膜が非化学量論的膜(ZnTe-0°,ZnTe-20°,ZnTe-60°,ZnTe-80°)に比べて良好な光電流応答を示すことを示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 
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