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J-GLOBAL ID：201802257705718801   整理番号：18A1860419

情報化された表面分析を支援するためのSentinel-2レベル1-C雲マスク製品の最初の評価【JST・京大機械翻訳】

A first assessment of the Sentinel-2 Level 1-C cloud mask product to support informed surface analyses

著者 (4件)： Coluzzi Rosa (IMAA-CNR (Institute of Methodologies for Environmental Analysis - National Research Council of Italy), C.da Santa Loja, 85050 Tito Scalo, PZ, Italy) ,  Imbrenda Vito (IMAA-CNR (Institute of Methodologies for Environmental Analysis - National Research Council of Italy), C.da Santa Loja, 85050 Tito Scalo, PZ, Italy) ,  Lanfredi Maria (IMAA-CNR (Institute of Methodologies for Environmental Analysis - National Research Council of Italy), C.da Santa Loja, 85050 Tito Scalo, PZ, Italy) ,  Simoniello Tiziana (IMAA-CNR (Institute of Methodologies for Environmental Analysis - National Research Council of Italy), C.da Santa Loja, 85050 Tito Scalo, PZ, Italy)
資料名： Remote Sensing of Environment  (Remote Sensing of Environment)
巻： 217  ページ： 426-443  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0252B  ISSN： 0034-4257  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光学リモートセンシング画像における雲検出は,検出されていない雲が表面および大気パラメータの解析において誤った結果を生じることができるので,重要な問題である。Sentinel-2は,関連する雲マスクで分布した高空間分解能衛星データを提供する。本論文では,Sentinel-2 Level-1C雲マスク生成物の,様々な生物地理学的シナリオと異なる雲量条件における雲を識別する能力を評価した。Sentinel-2 Band2(0.490μm)とBand10(1.375μm)を別々に分析する局所閾値法を適用することにより,誤検出の同定のための参照雲マスクを生成した。ヒストグラムに基づく閾値を,単一バンドと天然色複合体(B4B3B2)をチェックすることによって局所的に調整した。疑わしい事例において,NDVIとDEMも,マスクを微細化するために分析した。B2B11B12複合材料を用いて雪を分離した。著者らの試験サイトで得られた雲分類誤差の解析は,一般値の重要な推論を得ることを可能にした。L1C雲マスクは一般に雲の存在を過小評価した(平均ミッション誤差,OE,37.4%)。この誤差は,大きな遷移帯(雲コアと明瞭な地域間)を持つ不透明雲を含む画像に対して増加し,巻雲,フラグメンテーションは,ミッション誤差(R~20.73)の主要な発生源として現れた。主要な雲体内部の孔の存在において過大評価が広く見られた。2つの極端な環境は,特にL1C雲マスク製品にとって重要であった。アマゾン雨林上の検出は,複雑な雲量と高い水蒸気含有量の存在により,非常に非効率的であった(OE>70%)。一方,乾燥大気下でのアルプス地形は,偽巻雲を生成した。全体として,巻雲検出は最も非効率的であった。著者らの結果によると,Sentinel-2 L1Cユーザはいくつかの簡単な注意を払うべきであるが,ESAに対する待ちは雲検出生成物を改善する。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 巻雲 ,  漸移帯 ,  *画像 ,  複合材料 ,  精密化 ,  フラグメンテーション ,  アルプス ,  複合体 ,  ヒストグラム
準シソーラス用語： 発生源 ,  過小評価 ,  雪 ,  誤検出 ,  衛星データ ,  *雲マスク , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Sentinel-2 ,  クラウドマスク ,  L1C製品 ,  不透明雲 ,  巻雲

分類 (2件)： リモートセンシング一般  (AD04000L) ,  光学情報処理  (BD03060T)

タイトルに関連する用語 (5件)： 情報化 ,  表面分析 ,  支援 ,  雲マスク ,  評価